[發(fā)明專利]檢測裝置和制備方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580069153.4
• 申請日: 2015-12-18
• 公開（公告）號: CN106999934B
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: J·M·高爾斯
• 申請（專利權(quán)）人: 史密斯探測-沃特福特有限公司
• 主分類號: B01L3/00
• 分類號: B01L3/00;B01J19/00
• 代理公司: 北京潤平知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11283
• 代理人: 陳靜;嚴(yán)政

本發(fā)明公開了一種通道組件，該通道組件可以包含微流通道。本發(fā)明還公開了可能包含這樣的通道組件的檢測器和檢測器部件的制備方法。一個實例為檢測裝置，該檢測裝置包含：用于檢測感興趣物質(zhì)的檢測器；和包含微流通道組件的氣動系統(tǒng)，該微流通道組件包含用于將蒸氣分布至檢測器的第一微流通道，其中，該第一微流通道在聚合物本體的表面具有溝槽并且通過在該溝槽上方粘合至本體表面的膜提供第一通道的壁。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及通道組件，其可以包含微流通道，并且涉及制備這樣的組件的方法，以及涉及包含這樣的通道組件的檢測器和檢測器部件。

背景技術(shù)

檢測器件，例如用于檢測和/或鑒定物質(zhì)的檢測器和分析器以及一些醫(yī)療裝置，可以包含運動流體的流動路徑。需要封閉這些流動路徑并保護其免受污染。流體流動的通道可通過利用墊圈、O-環(huán)、軟管和夾鉗將部件連接在一起以形成。這樣的墊圈和O-環(huán)中使用的彈性體部件會易于受到疲勞和/或“除氣(outgassing)”的影響，其中它們釋放會污染檢測器或使檢測器失效的物質(zhì)。這樣的部件和/或僅僅是不規(guī)則(例如攜帶流體的通道壁的凸出或凹陷)也可能會導(dǎo)致保留流體的存放。以這種方式被保留的物質(zhì)也可以是污染和/或除氣的來源。

檢測器件可用于檢測是否存在有害或非法物質(zhì)，以及在一些情況下其可以是提供手持式裝置以使得人們能夠容易地在現(xiàn)場有效使用所必需的。檢測器件，例如離子遷移譜儀(ion mobility spectrometers)和質(zhì)譜儀，可以包含復(fù)雜的電子結(jié)構(gòu)并且采用高電壓和強磁場。這些會造成很大的用電需求，并且電池壽命縮短會減少這些裝置的用處。

環(huán)境問題和成本約束也意味著需要能夠保持和修理這樣的裝置。然而，問題在于，修理的行為會引入污染物。如果不將裝置返廠則無法以充分防止裝置發(fā)生泄漏或者保護該裝置免于污染從而保持其可靠性的方式替換墊圈、O-環(huán)、夾鉗或其他部件。

發(fā)明內(nèi)容

權(quán)利要求書中列出了本發(fā)明的各方面和實例。權(quán)利要求書的主題的目的在于解決至少部分上述技術(shù)問題。

附圖說明

現(xiàn)在將參照附圖僅以舉例的方式描述本發(fā)明公開的內(nèi)容的實施方式，其中：

圖1-A示出了通道組件的剖面圖；

圖1-B示出了圖1-A中所示的通道組件的平面圖；

圖1-C示出了通道的一種可能布置；

圖2-A示出了檢測裝置的示意圖；

圖2-B示出了適合于在圖2-A中所示的檢測裝置中使用的部件的平面圖；

圖2-C示出了適合于在圖2-A中所示的檢測裝置中使用的另一部件的平面圖；和

圖2-D示出了圖2-C中所示的部件的示意性剖面圖。

應(yīng)該理解，在附圖中，相似的標(biāo)號用于指示相似的元件。

具體實施方式

圖1示出了適合用于制備檢測器件和醫(yī)療裝置中的部件的微流通道組件1。

圖1中所示的組件包含聚合物膜12和聚合物本體10。延長溝槽16設(shè)置在該聚合物本體10的表面，并且聚合物膜12被布置成至少部分地覆蓋該表面，以使得膜12覆蓋且封閉溝槽16，從而形成通道。可以設(shè)計該通道的橫截面和長度的尺寸，以使得通道中的流體表現(xiàn)出微流體性質(zhì)，例如沿著該通道低速或低分散。例如，該通道可被構(gòu)造，以使得除非由于壓力差沿該通道泵送流體，否則流體不沿該通道運動(包括可忽略不計，或者零分散)。

膜12的厚度可以為小于500μm，例如小于250μm。本體10的厚度可以為至少2mm，例如至少為5mm。