[發明專利]用于探測電離輻射的探測器和方法有效
| 申請號: | 201580068831.5 | 申請日: | 2015-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN107110987B | 公開(公告)日: | 2019-11-01 |
| 發明(設計)人: | E·勒斯爾;C·赫爾曼;R·斯特德曼布克;K·J·恩格爾 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | G01T1/24 | 分類號: | G01T1/24 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 蔡洪貴 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 探測 電離輻射 探測器 方法 | ||
1.一種用于探測電離輻射的探測器(22’),包括:
直接轉換半導體層(36),所述直接轉換半導體層用于響應于入射電離輻射來生成載荷子;以及
對應于像素的多個電極(34),所述電極用于記錄所述載荷子且生成對應于所記錄的載荷子的信號;
其中,所述多個電極(34)的中心電極被構造成與至少兩個相鄰電極二維地交織,以通過所述中心電極并通過至少一個相鄰電極來記錄所述載荷子;
所述中心電極被構造成形成具有梳齒的梳狀件,以與形成具有梳齒的相應梳狀件的至少兩個相鄰電極的梳齒交織;
所述中心電極的梳齒與所述至少兩個相鄰電極的梳齒在縱向方向上交錯,所述中心電極和所述兩個相鄰電極沿所述縱向方向布置;以及
所述探測器進一步包括讀出電子裝置(44),所述讀出電子裝置用于基于由所述中心電極生成的中心信號和由所述至少兩個相鄰電極生成的至少兩個另外的信號確定所述入射電離輻射的位置信息和/或所述入射電離輻射的能量信息。
2.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中:
所述梳齒具有矩形形式;
第一相鄰電極與第二相鄰電極通過所述中心電極的一個梳齒間隔開;和/或
所述梳齒在所述縱向方向上具有相同的寬度。
3.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中:
所述多個電極(34)被沿著基本垂直于所述入射電離輻射的方向的直線布置;以及
所述中心電極被構造成在一側與第一相鄰電極交織且在另一側與第二相鄰電極交織。
4.根據權利要求3所述的探測器(22’),其中,所述中心電極的第一半體與第一相鄰電極的一半交織,且所述電極的第二半體與第二相鄰電極的一半交織。
5.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中,所述讀出電子裝置(44)被構造成將所述中心信號的信號水平與所述至少兩個另外的信號的信號水平比較,且在所述中心信號的信號水平高于所述至少兩個另外的信號的信號水平時,確定所述入射電離輻射的與所述中心電極的位置對應的位置。
6.根據權利要求5所述的探測器(22’),其中,所述讀出電子裝置(44)被構造成在所述中心電極的位置被確定為對應于所述入射電離輻射的位置時,使對應于所述中心電極的計數器(58)增加計數。
7.根據權利要求5所述的探測器(22’),其中,所述讀出電子裝置(44)包括比較器,所述比較器用于將所述中心信號的信號水平與預定閾值比較,以用于通過能量鑒別排除與不期望的噪聲效應對應的噪聲信號。
8.根據權利要求5所述的探測器(22’),其中,所述讀出電子裝置(44)包括峰值探測器(60)和比較器(52),所述峰值探測器用于確定所述中心信號的信號水平的峰值,所述比較器用于將所述峰值與所述至少兩個另外的信號的信號水平的峰值比較。
9.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中,所述多個電極(34)中的電極具有相同的尺寸和形狀。
10.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中:
所述多個電極(34)被布置在垂直于所述入射電離輻射的方向的平面中;以及
所述中心電極被構造成與至少三個相鄰電極交織以形成二維柵格。
11.根據權利要求1所述的探測器(22’),其中,所述中心電極的尺寸比同時生成的載荷子云的直徑大兩倍。
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