[發明專利]光耦合效率檢測組件及其組裝方法

有效

• 申請號: 201580068688.X
• 申請日: 2015-12-10
• 公開（公告）號: CN107111080B
• 公開（公告）日: 2019-03-05
• 發明（設計）人: G·D·巴徹;R·T·史密斯
• 申請（專利權）人: 諾華股份有限公司
• 主分類號: G02B6/42
• 分類號: G02B6/42;G02B6/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 范莉

1.一種光耦合效率檢測組件，包括：

容納分束器和光纖端口的第一殼體；

容納包圍監測光纖的套管的第二殼體；以及

具有多個平面側的附接塊，所述附接塊在所述多個平面側中的第一側上剛性地附接到所述第一殼體，所述附接塊在所述多個平面側中的第二側上剛性地附接到所述第二殼體，所述第二側與所述第一側相鄰，所述第一殼體和第二殼體以在所述分束器、所述光纖端口和所述套管之間建立齊焦安排的方式定位在所述附接塊上；

聚光器，所述聚光器被配置成用于將光束引導到所述分束器中；以及

在所述光纖端口處的光纖，其中，所述分束器用于將所述光束分成在所述光纖端口處耦合到所述光纖中的第一束、以及在所述套管處耦合到所述監測光纖中的第二束。

2.如權利要求1所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述第一側垂直于所述第二側。

3.如權利要求2所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述附接塊的所述第一側包括第一附接表面和從所述第一附接表面突出的第一對接墊，并且所述附接塊的所述第二側包括第二附接表面和從所述第二附接表面突出的第二對接墊。

4.如權利要求3所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述第一側的所述第一對接墊被配置成當所述附接塊附接到所述第一殼體時接觸所述第一殼體，并且其中，所述第二側的所述第二對接墊被配置成當所述附接塊附接到所述第二殼體時接觸所述第二殼體。

5.如權利要求4所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述第一側的所述第一附接表面通過粘結粘合劑而粘結到所述第一殼體，并且所述第二側的所述第二附接表面通過所述粘結粘合劑而粘結到所述第二殼體。

6.如權利要求5所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述粘結粘合劑具有的熱膨脹系數等于或小于所述第一殼體、所述第二殼體和所述附接塊的熱膨脹系數。

7.如權利要求5所述的光耦合效率檢測組件，

其中，所述第一對接墊沿著所述第一附接表面的周邊部分布置，并且所述粘結粘合劑布置在所述第一附接表面的中心部分上，而不干擾所述第一對接墊，并且

其中，所述第二對接墊沿著所述第二附接表面的周邊部分設置，并且所述粘結粘合劑布置在所述第二附接表面的中心部分上，而不干擾所述第二對接墊。

8.如權利要求1所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述齊焦安排將所述分束器與所述光纖端口的束接收部分之間的距離限定為跟所述分束器與所述監測光纖的束接收端之間的距離相同。

9.如權利要求1所述的光耦合效率檢測組件，其中，所述第一殼體、所述第二殼體和所述附接塊中的每一個包括精密金屬材料。

10.一種用于光耦合效率檢測組件的組裝方法，所述組裝方法包括：

在第一殼體中提供分束器和光纖端口；

在第二殼體中提供包圍監測光纖的套管；

將所述第一殼體剛性地附接到附接塊的平面第一側；以及

將所述第二殼體剛性地附接到所述附接塊的平面第二側，以在所述分束器、所述光纖端口和所述套管之間建立齊焦安排，所述平面第二側與所述附接塊的所述第一側相鄰；

將所述第二殼體相對于所述第一殼體定位以形成所述齊焦安排；以及

通過將所述附接塊粘結到所述第一殼體和所述第二殼體而使所述第二殼體相對于所述第一殼體固定不動。

11.如權利要求10所述的組裝方法，其中，所述定位包括：

將來自聚光器的光束引導到所述分束器中，以將所述光束分離并同時耦合到安裝在所述光纖端口處的對準光纖和所述套管處的所述監測光纖中；

調整所述聚光器的位置，以使所述光束與所述分束器和所述光纖端口對準；

檢測在所述監測光纖處的耦合效率；以及

調整所述第二殼體的位置，以優化在所述監測光纖處的耦合效率。