[發明專利]用于自動防偽的材料批量認證

在審

• 申請號: 201580068535.5
• 申請日: 2015-12-07
• 公開（公告）號: CN107110781A
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 安東尼·J·薩貝利;詹尼弗·F·舒馬赫;亞寧娜·什克爾;布賴恩·J·斯坦凱維奇;格倫·E·卡斯納;約翰·A·惠特利;安德魯·P·博尼法斯;拉維尚卡爾·西瓦林加姆
• 申請（專利權）人: 3M創新有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01V15/00;G03G15/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 周晨

1.一種認證材料樣品的方法，包括：

測量多個材料樣品的一個或多個特性特征，所述多個材料樣品是一批材料樣品，所述一批材料樣品包括基本上相同的組成并且基本上由相同的工藝制成，所述一批材料樣品的所述一個或多個特性特征具有相應的可變性；以及

分析所述相應的可變性以提取所述材料樣品中的每個材料樣品的一個或多個統計參數。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括基于所提取的所述一批材料樣品的統計參數來確定參考范圍。

3.根據權利要求2所述的方法，還包括測量待認證的測試材料樣品的所述一個或多個特性特征以獲得其一個或多個統計參數，以及將所獲得的一個或多個統計參數與所確定的參考范圍進行比較。

4.根據權利要求3所述的方法，其中如果所獲得的一個或多個統計參數在所述參考范圍內，則所述樣品被認證為真。

5.根據權利要求1所述的方法，其中測量所述一個或多個材料性質包括獲得所述一批材料樣品中的每個材料樣品的一個或多個數字圖像，以及從所獲得的數字圖像提取所述相應的可變性。

6.根據權利要求5所述的方法，還包括基于所提取的可變性生成多個基函數。

7.根據權利要求5所述的方法，還包括獲得待認證的測試材料樣品的一個或多個數字圖像，以及使用所述多個基函數的子集重構所述數字圖像。

8.根據權利要求6所述的方法，其中使用主分量分析(PCA)生成所述多個基函數。

9.根據權利要求1所述的方法，其中所述一個或多個特性特征包括光學特征、聲學特征、彈性特征、結構特征、電子特征、磁性特征、駐極體相關特征、或機械特征。

10.根據權利要求1所述的方法，其中所述一批材料樣品選自一批磨料、光學膜和非織造織物。

11.一種自動防偽的方法，包括：

在預定位置處將材料塊結合到測試對象的可視表面中，所述材料塊源自具有基本上相同的組成并且以相同的工藝制成的一批材料，所述一批材料的所述特性特征具有彼此不同的相應的可變性；

獲得所述一批材料中的每個材料的一個或多個數字圖像；

從所獲得的數字圖像提取所述可變性；

基于所提取的可變性生成多個基函數；

獲得在所述預定位置處結合到測試對象中的所述材料塊的數字圖像；以及

使用所述多個基函數的子集重構所述材料塊的所述數字圖像。

12.根據權利要求11所述的方法，還包括評估所述重構的重構誤差，以及當所述重構誤差低于預定值時將所述測試對象識別為真。

13.根據權利要求11所述的方法，其中所述一批材料包括一批多層光學膜或一批非織造織物。

14.根據權利要求13所述的方法，其中所述一批多層光學膜選自一批火雕處理膜、鏡膜或波長特定的過濾膜。

15.一種用于認證材料樣品的系統，包括：

測量部件，所述測量部件被構造成測量多個材料樣品的一個或多個特性特征，所述多個材料樣品是一批材料樣品，所述一批材料樣品包括基本上相同的組成并且基本上由相同的工藝制成，所述一批材料樣品的所述一個或多個特性特征具有相應的可變性；和

計算部件，所述計算部件被構造成分析所述相應的可變性以提取所述材料樣品中的每個材料樣品的一個或多個統計參數。

16.根據權利要求15所述的系統，其中所述計算部件被構造成基于所提取的所述一批材料樣品的統計參數來確定參考范圍。

17.根據權利要求16所述的系統，其中所述測量部件被構造成測量待認證的測試材料樣品的所述一個或多個特性特征以獲得其一個或多個統計參數，并且所述計算部件被構造成將所獲得的一個或多個統計參數與所確定的參考范圍進行比較。

18.根據權利要求15所述的系統，其中所述測量部件包括相機。

19.根據權利要求15所述的系統，其中所述一個或多個特性特征包括光學特征、聲學特征、彈性特征、結構特征、電子特征、磁性特征、駐極體相關特征、或機械特征。

20.根據權利要求15所述的系統，其中所述一批材料樣品選自一批磨料、光學膜和非織造織物。