[發(fā)明專利]分光測定裝置及分光測定方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580065427.2
• 申請日: 2015-11-19
• 公開（公告）號: CN107003183B
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發(fā)明（設計）人: 鈴木健吾;井口和也
• 申請（專利權）人: 浜松光子學株式會社
• 主分類號: G01J3/36
• 分類號: G01J3/36;G01N21/64
• 代理公司: 北京尚誠知識產(chǎn)權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

分光測定裝置(1)具備光源(10)、積分器(20)、第1分光檢測器(41)、第2分光檢測器(42)及解析部(50)。積分器(20)包含：內(nèi)部空間(21)，其配置有測定對象物；光輸入部(22)，其將光輸入到內(nèi)部空間(21)；光輸出部(23)，其將光自內(nèi)部空間(21)輸出；及試樣安裝部(24)，其安裝測定對象物。第1分光檢測器(41)接收自積分器(20)輸出的光，對該光中的第1波段的光進行分光而取得第1光譜數(shù)據(jù)。第2分光檢測器(42)接收自積分器(20)輸出的光，對該光中的第2波段的光進行分光而取得第2光譜數(shù)據(jù)。第1波段與第2波段包含一部分重疊的波段。由此，實現(xiàn)了可分光測定更寬的波段的被測定光的分光測定裝置及分光測定方法。

技術領域

本發(fā)明的一個方面涉及分光測定裝置及分光測定方法。

背景技術

已知有使用積分器及分光檢測器來測定測定對象物的發(fā)光效率等的分光測定技術。積分器包含：內(nèi)部空間，其配置有測定對象物；光輸入部，其將自光源輸出的光輸入到內(nèi)部空間；及光輸出部，其將被測定光自內(nèi)部空間輸出至外部。積分器的內(nèi)部空間是例如球形狀，并通過反射率高且擴散性優(yōu)良的內(nèi)壁面覆蓋。或者，積分器的內(nèi)部空間是例如半球形狀，在該情況下，半球部的內(nèi)壁為反射率高且擴散性優(yōu)良的壁面，平面部為反射率高的平坦的鏡(參照專利文獻1)。

積分器可將自光源輸出的激發(fā)光自光輸入部輸入到內(nèi)部空間，且使該激發(fā)光在內(nèi)部空間內(nèi)多重擴散反射。另外，積分器也可使通過對配置于內(nèi)部空間的測定對象物照射激發(fā)光而發(fā)生的發(fā)生光(例如熒光等)在內(nèi)部空間內(nèi)多重擴散反射。然后，積分器將被測定光自內(nèi)部空間經(jīng)光輸出部輸出至外部。被測定光是激發(fā)光及/或發(fā)生光。

分光檢測器將自積分器輸出至外部的被測定光進行分光而取得光譜數(shù)據(jù)。分光檢測器通過光柵或棱鏡等分光元件將被測定光分光成各波長成分，并通過光傳感器檢測該分光的各波長的光的強度。該光傳感器是多個受光部被1維排列后的光傳感器，并可通過利用與各波長對應的受光部檢測該波長成分的光的強度，而取得被檢測光的光譜數(shù)據(jù)。然后，可通過解析該光譜數(shù)據(jù)，而可不依賴于測定對象物的發(fā)光的角度特性等而測定測定對象物的發(fā)光效率等。

作為使用積分器的分光測定技術的測定對象物，可列舉有機EL(電致發(fā)光)材料或熒光材料等。另外，測定對象物的形態(tài)是溶液、薄膜及粉末等任意。這樣的測定對象物其發(fā)光量子產(chǎn)率(內(nèi)部量子效率)的評價是重要的。發(fā)光量子產(chǎn)率是在測定對象物所產(chǎn)生的發(fā)生光的光子數(shù)相對于由測定對象物所吸收的激發(fā)光的光子數(shù)的比。使用積分器的分光測定技術適合使用于評價測定對象物的發(fā)光量子產(chǎn)率時。

現(xiàn)有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2011-196735號公報

發(fā)明內(nèi)容

發(fā)明所要解決的技術問題

作為使用積分器的分光測定裝置，可分光測定波段200～950nm、波段350～1100nm或波段900～1650nm的被測定光的裝置已商品化。

但是，某測定對象物在400～600nm的短波段具有激發(fā)光波長，在1100nm以上的長波段具有熒光波長。由于現(xiàn)有的分光測定裝置無法同時分光測定400～600nm的波段及1100nm以上的波段，因而無法分光測定更寬的波段的被測定光，從而無法測定這樣的測定對象物的發(fā)光效率等。

在專利文獻1的段落0037中記載有“測定器70的測定范圍適合為覆蓋自光源裝置60照射的激發(fā)光的波長范圍及接收激發(fā)光而在試樣SMP發(fā)生的熒光的波長范圍這兩者”。但是，在專利文獻1中，并未記載針對包含激發(fā)光及熒光這兩者的被測定光的光帶較寬的情況下如何取得該被測定光的光譜數(shù)據(jù)。

本發(fā)明的一個方面是為了解決上述問題而完成的發(fā)明，其目的在于，提供可分光測定更寬的波段的被測定光的分光測定裝置及分光測定方法。

解決問題的技術手段