[發(fā)明專利]距離測量設備及確定距離的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580064827.1
• 申請日: 2015-11-17
• 公開（公告）號: CN107003408B
• 公開（公告）日: 2019-08-16
• 發(fā)明（設計）人: C·耶茨;C·索弗利;S·馬格赫
• 申請（專利權）人: 歐都思影像公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08
• 代理公司: 北京英創(chuàng)嘉友知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11447
• 代理人: 魏嘉熹;南毅寧

本發(fā)明涉及一種確定距離測量設備(1)與物體(9)之間的距離的方法，所述方法包括：a)用至少一個持續(xù)時間為T_p，s的短光脈沖(23)照射物體(9)；b)用多個持續(xù)時間為T_p，l的長光脈沖(24)照射物體(9)；c)在集成門(21)結束時輸出信號值U_ref，其中短光脈沖(23)的發(fā)射開始時間點與Δ_s之間的不變延遲使得Δ_tof和Δ_tof+T_p，s在Δ_s和Δ_e之間，其中，Δ_tof是短光脈沖到達光元件時的第一時間點，Δ_s是集成開始時間點，Δ_e是集成結束時間點；d)在在長光脈沖(19，24)的發(fā)射開始時間點與集成門(21)之間具有針對每個長光脈沖(24)的各自可變延遲τ的情況下根據(jù)到達光元件(3)的光的強度和Δ_s形成卷積函數(shù)f_c:＝U(τ)，其中所述可變延遲彼此不同以形成所述卷積函數(shù)；e)識別卷積函數(shù)中對應于U_ref的延遲τ_c；f)通過使用在步驟e)中識別的卷積函數(shù)中的延遲τ_c來計算距離。

技術領域

本發(fā)明涉及一種距離測量設備及用該距離測量設備確定距離的方法。

背景技術

距離可以通過光學方法在測量設備和物體之間被測量，而不需要在測量設備和物體之間產(chǎn)生物理接觸。在這些方法中，物體被測量設備照射，然后，從所述物體反射的光被該測量設備的光檢測器捕獲。

距離可以通過例如周期性地調(diào)制從所述設備發(fā)射的光強并通過測量發(fā)射光和到達檢測器的背面反射光(back reflected light)之間的相位差來確定。然而，由于光強的周期性，這種方法導致了模糊的距離測量。通過測量光的發(fā)射與背面反射光到達檢測器之間的飛行時間，可以確定明確的距離測量。

通過測量光的性質(zhì)，特別是作為時間函數(shù)的強度，來進行傳統(tǒng)的距離測量。然后處理所述性質(zhì)與時間的圖形以獲得飛行時間。這種處理可能在計算上是復雜的，因此可能需要很長的時間來執(zhí)行。如果距離測量需要很長的時間來執(zhí)行，這可能導致進行距離測量的重復頻率(repetition rate)降低。

傳統(tǒng)距離測量的精度受到利用其測量光的性質(zhì)的時間步長的大小的限制。而且，對于傳統(tǒng)的距離測量，物體的不同反射率也可導致所述圖形的不同形狀。當處理不同的圖形時，這可以導致不同的距離，使得距離取決于物體的反射率，這進一步降低了傳統(tǒng)距離測量的精度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一個目的是提供一種距離測量設備及用該距離測量設備測量距離的方法，其中，所述距離測量操作簡便且能同時保持精度。