[發明專利]用于漏電斷路器的測試電路有效
| 申請號: | 201580064573.3 | 申請日: | 2015-11-17 |
| 公開(公告)號: | CN107005043B | 公開(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發明(設計)人: | 達尼埃萊·諾瓦蒂 | 申請(專利權)人: | 布蒂克諾公司 |
| 主分類號: | H02H3/33 | 分類號: | H02H3/33 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 梁麗超;劉丹 |
| 地址: | 意大利*** | 國省代碼: | 意大利;IT |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 漏電 斷路器 測試 電路 | ||
1.一種用于漏電斷路器(10)的測試電路(20),所述漏電斷路器(10)適于且被配置為從關閉狀態轉換到開啟狀態,以在檢測到泄漏電流時中斷中性分支電路(1、11)和相位分支電路(2、12),其中,所述測試電路(20)適于且被配置為通過由所述相位分支電路和所述中性分支電路供給的主電壓饋電,所述測試電路(20)包括:
-第一輸入電路節點(N1),電連接或適于電連接到所述中性分支電路(1、11);
-第二輸入電路節點(N2),電連接或適于電連接到所述相位分支電路(2、12);
-測試電阻(Rtest);
-測試開關(C3),通過測試按鈕(21)可操作來連接所述第一輸入電路節點(N1)和所述第二輸入電路節點(N2)之間的所述測試電阻(Rtest),以便模擬泄漏電流;
-電子控制電路(22),被配置為由所述中性分支電路并由所述相位分支電路饋電,并且包括適于改變并存儲時間計數值并且在按壓測試按鈕(21)時重置所述時間計數值的電子時間計數器;
-光學和/或聲學信號設備(D5),由所述電子控制電路(22)控制,用于在所述電子時間計數器達到給定的時間計數值時,提供聲學和/或光學信號;
其特征在于:
-所述電子時間計數器包括易失性存儲器,所述易失性存儲器適于存儲所述時間計數值,并且在按壓所述測試按鈕(21)時或在缺少電源電壓時或者在開啟所述漏電斷路器時,重置所述時間計數值;
-電子控制電路(22)包括非易失性存儲器并且被編程為定期地將存儲在所述易失性存儲器中的所述時間計數值復制到所述非易失性存儲器,以便即使在缺少主電壓時或在開啟所述漏電斷路器時也能存儲所述時間計數值。
2.根據權利要求1所述的測試電路(20),其中,所述測試按鈕(21)的操作能夠確定所述測試開關(C3)的閉合,以便直接創建通過所述測試電阻(Rtest)的所述第一輸入電路節點和所述第二輸入電路節點(N1、N2)之間的電流的閉路。
3.根據權利要求1或2所述的測試電路(20),其中,所述電子控制電路(22)由流經所述測試電阻(Rtest)的電源電流饋電。
4.根據權利要求3所述的測試電路(20),其中,所述光學和/或聲學信號設備(D5)由所述電子控制電路(22)饋電。
5.根據權利要求1或2所述的測試電路(20),其中,所述電子控制電路(22)包括微控制器,所述微控制器適于并被配置為在所述主電壓復位或所述漏電斷路器關閉時,從由所述電源電壓的中斷或由所述漏電斷路器的開啟而造成的關閉狀態自動地切換到工作狀態,其中,所述微控制器被編程為在從所述關閉狀態到所述工作狀態的轉換時,將存儲在所述非易失性存儲器中的所述時間計數值自動地復制到所述易失性存儲器中。
6.根據權利要求5所述的測試電路(20),其中,所述微控制器具有200uA或更少的操作電流。
7.根據權利要求6所述的測試電路(20),其中,所述操作電流為100uA或更少。
8.根據權利要求1所述的測試電路(20),其中,所述電子控制電路(22)被編程以定期地將存儲在所述易失性存儲器中的所述時間計數值以不小于30分鐘的時間間隔復制到所述非易失性存儲器中。
9.根據權利要求8所述的測試電路(20),其中,所述時間間隔不小于60分鐘。
10.根據權利要求1或2所述的測試電路(20),其中,所述漏電斷路器(10)包括:
-測量螺旋管(15),具有由所述中性分支電路(1、11)和所述相位分支電路(2、12)交叉的初級繞組,并且具有電連接到脫扣裝置(14)的次級繞組;
-至少兩個開關元件(C1、C2),對所述脫扣裝置(14)敏感,以便至少兩個開關元件(C1、C2)在由所述測量螺旋管(15)檢測到所述泄漏電流時,從關閉狀態開始由所述脫扣裝置(14)帶入工作狀態。
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