[發明專利]用于X射線相襯斷層合成成像的探測器和成像系統

有效

• 申請號: 201580063910.7
• 申請日: 2015-11-17
• 公開（公告）號: CN106999137B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: E·勒斯爾
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/02
• 分類號: A61B6/02;A61B6/00;A61B6/04
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 李光穎;王英

1.一種用于X射線相襯斷層合成成像的X射線探測器布置(10)，

其中，所述X射線探測器布置(10)包括若干線探測器(1)；

其中，每個線探測器(1)被配置為在撞擊這種線探測器(1)的X射線束(2)的至少一部分中探測莫爾圖樣；

其中，每個線探測器(1)包括若干獨立探測器線(11)；并且

其中，每個線探測器(1)的寬度W等于所述莫爾圖樣的一個周期或整數倍的周期。

2.根據權利要求1所述的X射線探測器布置(10)，其中，每個線探測器(1)包括八個探測器線(11)。

3.根據前述權利要求中任一項所述的X射線探測器布置(10)，其中，每個探測器線(11)沿著垂直于所述X射線束(2)的對稱軸A的方向被布置。

4.根據權利要求1至2中任一項所述的X射線探測器布置(10)，其中，每個探測器線(11)相對于所述X射線束(2)的對稱軸A傾斜一銳角α。

5.一種用于對象的X射線相襯斷層合成成像的成像系統(24)，包括：

-根據前述權利要求中任一項所述的X射線探測器布置(10)；

-X射線源布置(12)；

-光柵布置(31、32)，其被配置為在所述X射線束(2)中創建莫爾圖樣；以及

-機架(30)；

其中，所述X射線源布置(12)、所述光柵布置(31、32)和所述X射線探測器布置(10)被安裝到所述機架(30)上。

6.根據權利要求5所述的成像系統(24)，還包括被配置為支撐所述對象的對象支撐件(36)，其中，所述成像系統被配置為將所述對象支撐件(36)和所述機架(30)相對地移動。

7.根據權利要求5所述的成像系統(24)，其中，所述成像系統被配置為圍繞當在所述X射線束(2)的方向上看時位于所述X射線探測器布置(10)下方的旋轉軸來旋轉所述機架(30)和/或對象支撐件(36)。

8.根據權利要求6所述的成像系統(24)，其中，所述成像系統被配置為圍繞當在所述X射線束(2)的方向上看時位于所述X射線探測器布置(10)下方的旋轉軸來旋轉所述機架(30)和/或所述對象支撐件(36)。

9.根據權利要求6-8中的任一項所述的成像系統(24)，其中，所述成像系統被配置為在垂直于所述X射線束(2)的對稱軸A的方向上平移所述機架(30)和/或所述對象支撐件(36)。

10.根據權利要求5至8中任一項所述的成像系統(24)，其中，所述光柵布置包括若干光柵部件，所述若干光柵部件被配置為在所述X射線束(2)中創建莫爾圖樣，使得當在所述X射線束(2)的方向上看時在每個線探測器(1)的前方布置有一個光柵部件。

11.根據權利要求5至8中任一項所述的成像系統(24)，其中，所述光柵布置包括一個光柵單元，所述一個光柵單元被配置為在所述X射線束(2)中創建莫爾圖樣，使得當在所述X射線束(2)的方向上看時所述光柵單元被布置在所有線探測器(1)的前方并同時覆蓋所有線探測器(1)。

12.根據權利要求10所述的成像系統(24)，其中，所述光柵部件包括相位光柵(31)和分析器光柵(32)。

13.根據權利要求11所述的成像系統(24)，其中，所述光柵單元包括相位光柵(31)和分析器光柵(32)。

14.一種用于X射線相襯斷層合成成像的方法，包括以下步驟：

a)提供經過X射線探測器布置(10)的X射線束；以及

b)在所述X射線束(2)的至少一部分中探測莫爾圖樣，其中，所述X射線探測器布置(10)被配置為如權利要求1至4中任一項所限定的。