[發明專利]反應性近場天線測量

在審

• 申請號: 201580061062.6
• 申請日: 2015-11-10
• 公開（公告）號: CN107110948A
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 魯斯卡·巴頓;卡斯拉·帕揚德赫朱
• 申請（專利權）人: EMSCAN公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R29/08
• 代理公司: 北京摯誠信奉知識產權代理有限公司11338
• 代理人: 邢悅,王永輝

1.一種校準掃描器的方法，所述掃描器包括被電子切換以從AUT捕獲近場數據的集成的測量探針的掃描器板陣列，并且具有板輸出，所述方法包括以下步驟：

(a)將校準探針與所述測量探針中的一個測量探針耦接；

(b)測量通過所述測量探針和所述校準探針的功率，并通過消除所述校準探針的影響來隔離從所述測量探針到所述板輸出的RF路徑的影響；

(c)對于每個測量探針重復步驟(a)和(b)；

(d)創建針對陣列的校準文件，其包括針對每個測量探針RF路徑的校正。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述測量探針包括具有RF振幅輸出的H場半環探針；通過測量通過環路和利用矢量網絡分析儀耦合到所述環路的校準探針的功率，從所述掃描器板的傳導RF振幅輸出來估計每個環路內的H場強度。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中所述校準探針與所述測量探針相同。

4.一種校正掃描器的輸出的方法，所述掃描器包括集成的測量探針的掃描器板陣列，所述測量探針被電子切換以捕獲來自AUT的近場數據以考慮掃描器的散射效應，其中通過比較實際從掃描器獲得的H場分布測量結果與從軟件模擬獲得的結果來計算所述校正。

5.根據權利要求4所述的方法，還包括以下步驟：將使用近場到遠場變換所估計的總輻射功率(TRP)校正為在消聲室的標準測量中實際測量的值。

6.根據權利要求4或5所述的方法，還包括權利要求1的校準步驟。

7.一種校正掃描器的輸出的方法，所述掃描器包括集成的測量探針的掃描器板陣列，所述測量探針被電子切換以捕獲來自AUT的近場數據，以考慮測量探針對AUT的負載效應，其中通過比較從掃描器實際獲得的測量結果與電波暗室中經驗測試獲得的結果來計算所述校正。

8.根據權利要求7所述的方法，還包括權利要求1的校準步驟。

9.根據權利要求7或8所述的方法，還包括權利要求5或6所述的校正步驟。

10.一種天線測量設備，包括被電子切換以捕獲在AUT附近的近場數據的集成探針陣列，其中所述設備包括處理器，該處理器適于使用遠場變換方法將近場數據變換為遠場，并且實現權利要求1至10中任一項所述的校準或校正步驟。