[發明專利]多相波導探針的適配

在審

• 申請號: 201580061005.8
• 申請日: 2015-09-10
• 公開（公告）號: CN107148700A
• 公開（公告）日: 2017-09-08
• 發明（設計）人: J.F.科勒姆;K.L.科勒姆
• 申請（專利權）人: CPG技術有限責任公司
• 主分類號: H01Q1/00
• 分類號: H01Q1/00;H01Q1/04;H01Q9/30;G01S13/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 張曉明

1.一種方法，包括：

用激發電壓激發多相波導探針的第一充電端子和第二充電端子，以合成與有損傳導介質的引導表面波導模式實質上匹配的多個場，以沿有損傳導介質的表面通過徑向表面電流傳輸能量，第一充電端子位于有損傳導介質上的限定高度處，并且第二充電端子位于第一充電端子下方限定距離；

檢測與多相波導探針相關聯的操作條件的變化；和

響應于檢測到的變化，調節多相探針以改善引導表面波導模式的匹配。

2.如權利要求1所述的方法，其中，檢測與多相波導探針相關聯的操作條件的變化包括檢測與徑向表面電流相關聯的電場強度的變化。

3.如權利要求1和2中任一項所述的方法，其中，電場強度的變化由位于超過多相波導探針的限定的徑向距離之外的場檢測儀來檢測，該限定的徑向距離與多相波導探針的接近徑向表面電流和遠離徑向表面電流之間的過渡相關聯。

4.如權利要求1-3中任一項所述的方法，其中，檢測與多相波導探針相關聯的操作條件的變化包括檢測有損傳導介質的傳導率的變化。

5.如權利要求1-4中任一項所述的方法，其中，傳導率的變化由位于距離多相波導探針的限定的徑向距離處的地面參數檢測儀來檢測，該限定的徑向距離與多相波導探針的接近徑向表面電流和遠離徑向表面電流之間的過渡相關聯。

6.如權利要求1-5中任一項所述的方法，其中，有損傳導介質是陸地介質。

7.如權利要求6所述的方法，其中，合成場與地面介質表面上的澤尼克表面波模式實質上模式匹配。

8.如權利要求1-7中任一項所述的方法，其中，調節多相探針包括調節有損傳導介質上方的第一充電端子的高度或第二充電端子的高度。

9.如權利要求8所述的方法，其中，調節多相探針包括調節有損傳導介質上方的第一充電端子的高度和第二充電端子的高度。

10.如權利要求9所述的方法，其中，第一充電端子和第二充電端子之間的限定的距離保持相同。

11.如權利要求1-10中任一項所述的方法，其中，第一充電端子和第二充電端子經由線圈耦合到激發源。

12.如權利要求1-11中任一項所述的方法，其中，第一充電端子經由可變抽頭耦合到線圈，并且調節多相探針包括調節線圈上的可變抽頭的位置。

13.如權利要求1-12中任一項所述的方法，其中，第二充電端子經由第二可變抽頭耦合到線圈，并且調節多相探針還包括調節線圈上的第二可變抽頭的位置。

14.如權利要求1-11中任一項所述的方法，其中，第二充電端子經由可變抽頭耦合到線圈，并且調節多相探針包括調節線圈上的可變抽頭的位置。

15.如權利要求1-14中任一項所述的方法，其中，調節多相探針包括調節第一充電端子的尺寸或第二充電端子的尺寸。