[發明專利]磁共振成像裝置以及定量性磁化率匹配方法

有效

• 申請號: 201580060823.6
• 申請日: 2015-10-19
• 公開（公告）號: CN107072592B
• 公開（公告）日: 2020-06-30
• 發明（設計）人: 白豬亨;佐藤良太;谷口陽;越智久晃;村瀨毅倫;尾藤良孝
• 申請（專利權）人: 株式會社日立制作所
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;王立杰

1.一種磁共振成像裝置，其特征在于，具備：

測量控制部，其測量與高頻磁場脈沖的照射對應地從被檢體產生的核磁共振信號作為復信號；

圖像重構部，其根據上述復信號，對像素值為復數的復圖像進行重構；

磁場分布計算部，其根據上述復圖像生成相位圖像，并根據該相位圖像計算出磁場分布；以及

磁化率分布計算部，其根據上述磁場分布計算出磁化率分布，

上述磁化率分布計算部進行通過反復運算使誤差函數最小化的最小化處理來計算出上述磁化率分布，并且將在該最小化處理中根據上述誤差函數計算出的更新磁化率分布在每次計算更新磁化率分布時進行平滑化，其中，誤差函數是使用預先決定的初始磁化率分布和上述磁場分布定義的函數，

上述磁化率分布計算部具備：

更新磁化率分布計算部，其使用上述誤差函數，根據上述初始磁化率分布計算出上述更新磁化率分布；

平滑化處理部，其對上述更新磁化率分布進行平滑化，并生成合成磁化率分布；以及

判定部，其進行上述反復運算的結束判定，并且將上述初始磁化率分布更新為上述合成磁化率分布，

上述平滑化處理部具備：

濾波處理部，其對上述更新磁化率分布應用預先決定的平滑化濾波器，并生成處理后磁化率分布；以及

合成部，其對上述更新磁化率分布和上述處理后磁化率分布進行合成，生成合成磁化率分布，

上述判定部將判定為結束時的上述合成磁化率分布設為上述磁化率分布。

2.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

將上述誤差函數設定為向根據對上述磁場分布和上述初始磁化率分布進行卷積運算而得的結果決定的函數賦予權重，

根據從上述復圖像得到的相位圖像計算出上述權重。

3.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

上述更新磁化率分布計算部計算出上述誤差函數的梯度，并使用計算出的梯度，來計算出上述更新磁化率分布。

4.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

上述合成部將上述更新磁化率分布和上述處理后磁化率分布分別變換為k空間數據，對上述變換后的k空間數據分別賦予權重并進行加法運算來生成上述合成磁化率分布。

5.根據權利要求4所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

在上述更新磁化率分布的k空間數據中，將向魔角區域近旁的數據賦予的權重設定為小于向其他區域的數據賦予的權重，

在上述處理后磁化率分布的k空間數據中，將向魔角區域近旁的數據賦予的權重設定為大于其他區域的數據賦予的權重。

6.根據權利要求4所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

對各k空間數據內的全部數據，將上述權重設定為相同。

7.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

上述濾波器為邊緣保存平滑化濾波器。

8.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

上述初始磁化率分布的全部值為0。

9.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

當計算出上述更新磁化率分布時，上述判定部使用該更新磁化率分布和上述初始磁化率分布進行上述結束判定。

10.根據權利要求1所述的磁共振成像裝置，其特征在于，

當計算出上述合成磁化率分布時，上述判定部使用該合成磁化率分布和上述初始磁化率分布進行上述結束判定。

11.一種定量性磁化率匹配方法，其特征在于，

從收集并重構根據高頻磁場脈沖的照射而從被檢體產生的核磁共振信號而得的復圖像獲得相位圖像，

根據上述相位圖像計算出磁場分布，

進行通過反復運算使由預先決定的初始磁化率分布和上述磁場分布定義的誤差函數最小化的最小化處理，計算出磁化率分布，

在上述最小化處理中，

對根據上述誤差函數計算出的、更新上述初始磁化率分布而得的更新磁化率分布應用預先決定的平滑化濾波器而生成處理后磁化率分布，并對上述更新磁化率分布和上述處理后磁化率分布進行合成，生成合成磁化率分布，

將上述初始磁化率分布更新為該合成磁化率分布，并將反復運算結束時的上述合成磁化率分布設為上述磁化率分布。