[發(fā)明專利]測(cè)試連接器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580058463.6 | 申請(qǐng)日: | 2015-10-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107076781A | 公開(公告)日: | 2017-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭永倍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社ISC |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205 | 代理人: | 楊文娟,臧建明 |
| 地址: | 韓國(guó)京畿道城南*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 連接器 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
一或多個(gè)例示性實(shí)施例是關(guān)于一種測(cè)試連接器,且更特定言之,是關(guān)于一種甚至在高溫下仍具有穩(wěn)定電性質(zhì)的測(cè)試連接器。
背景技術(shù)
一般而言測(cè)試目標(biāo)裝置與測(cè)試裝置之間的電連接必須穩(wěn)定以對(duì)測(cè)試目標(biāo)裝置執(zhí)行電性質(zhì)測(cè)試。測(cè)試連接器大體用作用于連接測(cè)試目標(biāo)裝置與測(cè)試裝置的裝置。
測(cè)試連接器連接測(cè)試目標(biāo)裝置的端子與測(cè)試裝置的襯墊,使得可互動(dòng)地交換電信號(hào)。為了如此進(jìn)行,將彈性傳導(dǎo)性薄片或彈簧式頂針用作測(cè)試連接器中的連接單元。彈性傳導(dǎo)性薄片包含與測(cè)試目標(biāo)裝置的端子連接的彈性傳導(dǎo)性單元,且彈簧式頂針包含彈簧,以便支撐測(cè)試目標(biāo)裝置與測(cè)試裝置之間的連接。彈簧式頂針用于多數(shù)測(cè)試連接器中,因?yàn)閺椈墒巾斸樋稍谶B接期間緩沖機(jī)械沖擊。
圖1中示出測(cè)試連接器的實(shí)例。測(cè)試連接器包含:形成于測(cè)試連接器(20)的接觸球狀柵格陣列(ball grid array,簡(jiǎn)稱:BGA)半導(dǎo)體裝置(2)的球形導(dǎo)線(4)的區(qū)域中的傳導(dǎo)性硅部分(8);以及形成于不接觸半導(dǎo)體裝置(2)的球形導(dǎo)線(4)的區(qū)域中以支撐傳導(dǎo)性硅部分(8)且充當(dāng)絕緣層的絕緣硅部分(6)。傳導(dǎo)性硅部分(8)包含為在硅橡膠中具有某些間隔的間隔部分的傳導(dǎo)性粒子(8a)。測(cè)試連接器(20)安裝于包含多個(gè)襯墊(10)的測(cè)試裝置(9)上。詳言之,在測(cè)試裝置(9)的襯墊(10)接觸傳導(dǎo)性硅部分(8)時(shí),將測(cè)試連接器(20)安裝于測(cè)試裝置(9)上。
為了測(cè)試連接器的測(cè)試,降低半導(dǎo)體裝置,使得半導(dǎo)體裝置(2)的球形導(dǎo)線(4)接觸傳導(dǎo)性硅部分(8)。接著,當(dāng)另外降低半導(dǎo)體裝置(2)時(shí),傳導(dǎo)性硅部分(8)經(jīng)在厚度方向上壓縮且變得具導(dǎo)電性。在此情況下,當(dāng)自測(cè)試裝置(9)施加電信號(hào)時(shí),經(jīng)由傳導(dǎo)性硅部分(8)將電信號(hào)傳輸至半導(dǎo)體裝置(2)。因此,執(zhí)行電測(cè)試。
半導(dǎo)體裝置可在室溫或高溫下執(zhí)行測(cè)試。此測(cè)試被稱作“預(yù)燒測(cè)試”。在預(yù)燒測(cè)試期間,歸因于與材料的性質(zhì)有關(guān)的問題,電性質(zhì)可減弱。減弱的原因之一是因?yàn)闅w因于硅橡膠在高溫下在傳導(dǎo)性硅部分中的膨脹,傳導(dǎo)性硅部分中的傳導(dǎo)性粒子之間的間隔增大。舉例而言,如圖1中所示出,在室溫下由間隔S1間隔開的傳導(dǎo)性粒子可在高溫下由間隔S2(S2>S1)間隔開,如圖2中所示出。意即,傳導(dǎo)性粒子之間的距離可增大。當(dāng)傳導(dǎo)性粒子之間的間隔增大時(shí),傳導(dǎo)性粒子可能不能夠相互接觸,此因此可引起總體電性質(zhì)的減弱。
發(fā)明內(nèi)容
技術(shù)問題
一或多個(gè)例示性實(shí)施例包含一種甚至在高溫下仍具有穩(wěn)定電性質(zhì)的測(cè)試連接器。
解決問題的手段
根據(jù)一或多個(gè)例示性實(shí)施例,一種配置于測(cè)試目標(biāo)裝置與測(cè)試裝置之間且將測(cè)試目標(biāo)裝置的端子電連接至測(cè)試裝置的襯墊的測(cè)試連接器,所述測(cè)試連接器包含:傳導(dǎo)性部分,其中多個(gè)傳導(dǎo)性粒子沿著厚度方向配置于彈性絕緣材料的區(qū)域處,區(qū)域?qū)?yīng)于測(cè)試目標(biāo)裝置的端子;在傳導(dǎo)性部分之間的絕緣支撐部分,以包圍且支撐傳導(dǎo)性部分的方式設(shè)置;以及在傳導(dǎo)性部分中的每一個(gè)中提供的彈性部件,每一彈性部件是通過螺旋纏繞傳導(dǎo)性電線而形成。在每一傳導(dǎo)性部分中,多個(gè)彈性部件彼此鄰近。
彈性部件可被設(shè)置以用以甚至當(dāng)彈性部件間隔開時(shí)仍維持相互之間的接觸。
當(dāng)N表示螺旋纏繞傳導(dǎo)性電線的次數(shù)時(shí),可滿足N≥1/2。
傳導(dǎo)性粒子可分布于彈性部件周圍。
當(dāng)d表示傳導(dǎo)性電線的電線直徑時(shí),可滿足0.01mm<d<3mm。
當(dāng)D表示螺旋纏繞的傳導(dǎo)性電線的外徑時(shí),可滿足0.01mm<D<0.5mm。
在彈性材料中,可滿足D>d。
根據(jù)一或多個(gè)例示性實(shí)施例,一種配置于測(cè)試目標(biāo)裝置與測(cè)試裝置之間且將測(cè)試目標(biāo)裝置的端子電連接至測(cè)試裝置的襯墊的測(cè)試連接器,所述測(cè)試連接器包含:傳導(dǎo)性部分,其中多個(gè)傳導(dǎo)性粒子沿著厚度方向配置于彈性絕緣材料的區(qū)域處,區(qū)域?qū)?yīng)于測(cè)試目標(biāo)裝置的端子;在傳導(dǎo)性部分之間的絕緣支撐部分,以包圍且支撐傳導(dǎo)性部分的方式設(shè)置;以及在傳導(dǎo)性部分中的每一個(gè)中提供的彈性彈簧,每一彈性彈簧是通過螺旋纏繞傳導(dǎo)性電線而形成。至少兩個(gè)彈性彈簧經(jīng)纏結(jié)且提供于每一傳導(dǎo)性部分中。
多個(gè)彈性彈簧可相互鄰近地配置,且傳導(dǎo)性粒子分布于彈性彈簧周圍。
至少兩個(gè)彈性彈簧可在厚度方向上配置。
本發(fā)明的效果
根據(jù)一或多個(gè)例示性實(shí)施例,在測(cè)試連接器中,傳導(dǎo)性粒子和彈簧狀彈性部件被混合并在導(dǎo)電部分中使用,因此相鄰彈簧被構(gòu)造成即使當(dāng)彈性絕緣材料在高溫下膨脹被交織在一起。因此,電特性的劣化可以被最小化。
附圖說明
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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