[發明專利]PET探測器定時校準

有效

• 申請號: 201580058130.3
• 申請日: 2015-10-15
• 公開（公告）號: CN107110988B
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 葉京漢;宋犀云;T·L·勞倫斯;S·X·王
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;A61B6/00;A61B6/03
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王英;劉炳勝

1.一種診斷成像系統，包括：

多個輻射探測器(20)，其被配置為探測從成像區域發出的輻射事件；

校準體模(14)，其被配置為實質上跨越整個視場被設置在所述成像區域中并且生成定義響應線(LOR)的輻射事件對，其中，所述校準體模(14)是薄的，使得每條LOR沿著所述校準體模的長度與所述校準體模(14)相交；以及

校準處理器(24)，其被配置為從所述輻射探測器接收輸入并且計算針對每個探測器的與入射角不相關晶體定時延遲τ_i。

2.根據權利要求1所述的系統，其中，所述校準體模(14)包括薄板源并且被配置為在校準期間以偏移取向被設置在所述成像區域中。

3.根據權利要求1所述的系統，其中，所述校準處理器(24)被配置為確定所述視場中的所述校準體模(14)的取向和位置以及所述校準體模與每條LOR的至少一個交點。

4.根據權利要求3所述的系統，其中，所述校準處理器(24)還被配置為計算實際探測時間與期望探測時間之間的差。

5.根據權利要求4所述的系統，其中，所述校準處理器(24)還被配置為使用來迭代計算所述晶體定時延遲τ_i，其中，i和j是晶體指數，α是阻尼因子，E是期望的時間差，是平均測量時間差，n是事件的數目。

6.根據權利要求5所述的系統，其中，所述校準處理器(24)還被配置為利用E'替代E到所述迭代計算中，使得E′_ij＝(E_ij-η_i(φ_ij)+η_j(φ_ji))，其中，φ_ij是到晶體i的伽瑪入射角而η_i是針對晶體i的與入射角相關的定時調節。

7.根據權利要求6所述的系統，其中，所述校準處理器(24)還被配置為通過組合τ_i和η_i來構建針對每條LOR的定時校正的第一查找表和針對每個晶體的相互作用的角深度校正的第二查找表。

8.一種用于校準診斷成像系統的方法，包括：

將校準體模(14)實質上跨越整個視場設置于成像區域中并且生成定義響應線(LOR)的輻射事件對，其中，所述校準體模(14)是薄的，使得每條LOR沿著所述校準體模的長度與所述校準體模(14)相交；

通過使用多個輻射探測器探測從所述成像區域發出的多個輻射事件；

接收所述輻射探測器的輸入；并且

基于接收到的所述輸入來計算與入射角不相關晶體定時延遲τ_i。

9.根據權利要求8所述的方法，包括：

采集第一列表模式采集，其中，所述校準體模(14)被確定大小和取向為使在第一列表模式采集期間穿過所述校準體模的LOR的數目最大化。

10.根據權利要求8和9中的任一項所述的方法，包括：

在校準期間在所述成像區域中以實質上90度偏移取向設置所述校準體模(14)，其中，所述校準體模(14)是平面的。

11.根據權利要求8和9中的任一項所述的方法，包括：

確定所述視場中的所述校準體模(14)的取向和位置以及所述校準體模(14)與每條LOR的至少一個交點。

12.根據權利要求8和9中的任一項所述的方法，包括：

計算實際探測時間與期望探測時間之間的差。

13.根據權利要求8和9中的任一項所述的方法，包括：

使用來迭代計算所述晶體定時延遲τ_i，其中i和j是晶體指數，α是阻尼因數，E是期望的時間差，是平均測量時間差，n是事件的數目。