[發明專利]處理體圖像數據記錄的方法、裝置及監視方法、數據介質

有效

• 申請號: 201580058105.5
• 申請日: 2015-10-29
• 公開（公告）號: CN107111871B
• 公開（公告）日: 2022-05-17
• 發明（設計）人: M·巴切爾;T·京特;C·波利沃達;C·萊因哈特
• 申請（專利權）人: 音量制圖法公司;聯邦物理技術研究院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;楊薇

1.一種用于處理體圖像數據記錄的方法，所述方法包括以下步驟：

對待檢查對象執行非光學圖像掃描方法并產生體圖像數據記錄，并且為了確定對象表面的位置，從所述體圖像數據記錄中提取對象輪廓，

設置對象表面點以及該對象表面點的鄰域，并且分析所述鄰域內的灰度值，

基于灰度分析針對所述對象表面點計算反應所述表面的局部質量的質量值，

其中，為了計算圖形再現和/或為了對待檢查對象進行進一步分析，根據所計算的質量值對所述表面點不同地進行加權，

并且其中，所述非光學圖像掃描方法和隨后的質量值的計算利用測試對象定期地執行，并且將連續的質量值計算的結果彼此進行比較，并且計算針對所確定的變化的測量以便根據所計算的針對所確定的變化的測量產生信號，以指示維修或修理裝置的必要性。

2.根據權利要求1所述的方法，所述方法還包括基于所述質量值確定反映測量不確定性的因素的步驟。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，借助于用于分析給定對象表面點周圍的灰度行為的一種方法或至少兩種方法的組合來執行所述質量值的所述計算。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述質量值從以下分析中得到：信噪比的分析、梯度分布的分析、邊緣發現得到的所有參數的分析、邊緣發現的再現性的分析、沿著至少一個軌跡的灰度分布的統計分析或特征分析、所述表面點的所述鄰域中的所述灰度分布的統計分析或特征分析、或這些計算中的一個或多個的組合。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，設置所述對象表面點的所述鄰域包括設置通過該對象表面點的至少一個軌跡，并且所述分析的步驟包括分析沿著所述軌跡的灰度分布。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述分析的步驟包括考慮次級信息。

7.根據權利要求1所述的方法，其中，根據以下規則中的一個或更多個執行加權：

0到1之間的連續加權，

其質量值低于可預定或預定的閾值的那些表面點被用零加權，

沒有被用零加權的表面點在0到1之間相同地被加權或不同地被加權。

8.根據權利要求1所述的方法，其中，為了進行進一步處理，將質量信息項分配給每個表面點。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，所述質量信息項被可視化。

10.一種用于處理體圖像數據記錄的裝置，所述裝置包括用于對待檢查的對象執行非光學圖像掃描方法并且產生體圖像數據記錄的器具，并且包括為了確定對象表面的位置而被編程以從所述體圖像數據記錄提取對象輪廓的計算設備，其中，所述計算設備還被編程為針對對象表面點設置至少一個軌跡或鄰域，分析沿著所述至少一個軌跡的灰度分布或者分析所述鄰域內的灰度值，并且為了再現所述表面的局部質量計算所述對象表面點的質量值，其中，為了計算圖形再現和/或為了對待檢查對象進行進一步分析，根據所計算的質量值對所述表面點不同地進行加權，并且其中，所述計算設備還被編程成，使得所述非光學圖像掃描方法和隨后的質量值的計算利用測試對象定期地執行，并且將連續的質量值計算的結果彼此進行比較，并且計算針對所確定的變化的測量以便根據所計算的針對所確定的變化的測量產生信號，以指示維修或修理所述裝置的必要性。

11.根據權利要求10所述的裝置，所述裝置還包括指示設備，借助于所述指示設備指示所述質量值。

12.一種存儲有計算機程序的計算機可讀數據介質，所述計算機程序包括程序代碼，所述程序代碼用于當在計算機或相應的計算單元上執行所述計算機程序時執行根據權利要求1至9中任一項所述的方法的所有步驟。