[發明專利]使用納米結構陣列的聚合物的高效光學分析有效
| 申請號： | 201580057683.7 | 申請日： | 2015-10-23 |
| 公開（公告）號： | CN107002126B | 公開（公告）日： | 2021-05-25 |
| 發明（設計）人： | 馬丁·胡伯;斯圖亞特·戴維森 | 申請（專利權）人： | 昆塔波爾公司 |
| 主分類號： | C12Q1/6874 | 分類號： | C12Q1/6874;G01N27/447;G01N27/453 |
| 代理公司： | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡秋玲;鄭霞 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 使用 納米 結構 陣列 聚合物 高效 光學 分析 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于分析聚合物的裝置，所述聚合物各自具有附接至單體序列的光學標記物，所述裝置包括：
納米孔陣列，其分隔第一室和第二室，其中所述納米孔陣列的納米孔各自連接所述第一室和所述第二室，并且被布置成簇，其中每個所述簇包含多個納米孔使得納米孔的每個不同的簇被布置在不同的分辨率有限區域內；
聚合物移位系統，其用于將所述第一室中的聚合物穿過所述納米孔陣列的納米孔移動到所述第二室；和
檢測系統，其用于在每當光學標記物離開分辨率有限區域內的納米孔時收集由附接至聚合物的光學標記物生成的光學信號，其中所述分辨率有限區域是納米孔陣列的表面的區域，在其中的單個特征或光發射源不能被光學信號檢測系統區分。
2.如權利要求1所述的裝置，其中所述簇被以直線陣列或六邊形陣列布置。
3.如權利要求1或權利要求2所述的裝置，其中所述聚合物是多核苷酸。
4.如權利要求3所述的裝置， 其中所述聚合物是線性聚合物， 所述線性聚合物包括以線性鏈連接的至少兩個不同種類的核苷酸的序列，其中每個種類的基本上每一個核苷酸被光學標記物標記，所述光學標記物能夠生成指示其所附接的核苷酸的光學信號。
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