[發明專利]用于接口確定的脈沖形狀改變

有效

• 申請號: 201580057304.4
• 申請日: 2015-10-22
• 公開（公告）號: CN107076599B
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: S.薩瓦德;F.M.哈蘭
• 申請（專利權）人: 霍尼韋爾國際公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284;G06F17/16;G06F17/50
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 畢錚;張濤

1.一種脈沖雷達界面確定的方法（100），包括：

提供（101）針對儲槽（205）中的第一材料和第二材料的折射率，所述第二材料與所述第一材料相比是較不密實的并且形成與所述第一材料的界面，以及提供界面物位確定模型（界面模型），所述界面物位確定模型包括利用所述折射率和所述第二材料的厚度作為參數的傳遞函數；

向所述儲槽中傳輸（102）至少一個實際雷達脈沖并且測量所得回波曲線或回波曲線部分，所述回波曲線部分包括所述界面位置周圍的至少一個所測量到的界面脈沖；

使用由處理器（215）運行的所述界面模型利用作為輸入的參考脈沖連同針對所述厚度的初始值進行模擬（103），以生成初始模型生成的界面脈沖（初始MGIP）；

在多個點之上逐點比較（104）所述所測量到的界面脈沖與所述初始MGIP以確定多個殘差；

其中如果所述殘差之和（殘差之和）＞預定閾值，通過利用從利用針對所述厚度的更新的值更新所述界面模型所生成的更新的界面模型來重復所述比較（105）而進行迭代，所述更新的界面模型提供更新的MGIP；并且

其中當所述殘差之和≤所述預定閾值時，確定（106）所述厚度。

2.根據 權利要求1所述的方法，其中如果所述殘差之和＞所述預定閾值，利用針對所述厚度的所述更新的值重復所述模擬，以生成所述更新的界面模型和來自所述更新的界面模型的所述更新的MGIP。

3.根據 權利要求1所述的方法，其中如果所述殘差之和＞所述預定閾值，從所述更新的MGIP的庫獲取所述更新的MGIP。

4.根據 權利要求1所述的方法，還包括在預定時間段之后或在確定至少一個發射器電路參數中的漂移之后更新所述參考脈沖。

5.根據 權利要求1所述的方法，其中所述界面模型包括ABCD矩陣。

6.根據 權利要求1所述的方法，其中所測量到的界面脈沖是單個界面脈沖，其中針對所述第一材料和所述第二材料的峰值重疊。

7.根據 權利要求1所述的方法，其中所述更新的值通過擾亂并測量算法自動生成。

8.一種脈沖雷達物位量規（260），包括：

處理器（215），其具有存儲脈沖雷達界面確定算法（210a）的相關聯的存儲器（210），所述脈沖雷達界面確定算法包括具有傳遞函數的界面物位確定模型（界面模型），所述傳遞函數利用針對儲槽（205）中的第一和第二材料的折射率和所述第二材料的厚度作為參數，所述第二材料與所述第一材料相比是較不密實的并且形成與所述第一材料的界面；

脈沖寬度生成器（PGen）塊（221），其耦合成接收源自所述處理器的控制信號；

用于耦合到所述儲槽中的探頭的收發器（220），包括耦合到所述PGen塊的輸出以用于傳輸雷達脈沖的輸入，和通過傳感器（226）耦合到所述處理器的輸入以用于處理響應于所述雷達脈沖而接收的回波信號的輸出；

所述脈沖雷達界面確定算法在由所述處理器（215）實現時導致：

使用由所述處理器運行的所述界面模型利用作為輸入的參考脈沖連同針對所述厚度的初始值進行模擬，以生成初始模型生成的界面脈沖（初始MGIP）；

在多個點之上逐點對響應于所述收發器（220）將至少一個實際雷達脈沖傳輸到所述儲槽（205）中并且測量所得回波曲線或回波曲線部分而獲取的所測量到的界面脈沖與所述初始MGIP進行比較以確定多個殘差，所述回波曲線部分包括所述界面位置周圍的所述界面脈沖；

其中如果所述殘差之和（殘差之和）＞預定閾值，通過利用從利用針對所述厚度的更新的值更新所述界面模型所生成的更新的界面模型來重復所述比較而進行迭代，所述更新的界面模型提供更新的MGIP；并且

其中當所述殘差之和≤所述預定閾值時，確定所述厚度。

9.根據 權利要求8所述的脈沖雷達物位量規，其中所述脈沖雷達物位量規實現導波雷達（GWR）（200）。