[發明專利]用于測量溫度的方法和裝置

在審

• 申請號: 201580057068.6
• 申請日: 2015-08-27
• 公開（公告）號: CN107076616A
• 公開（公告）日: 2017-08-18
• 發明（設計）人: F.烏特默倫;F.亨里齊
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01J5/34
• 分類號: G01J5/34
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司72001
• 代理人: 李永波,宣力偉

1.用于在使用具有作為電容（304）來連接的金屬-絕緣體-半導體結構的傳感器（302）下測量溫度（T1，T2）的方法（200），所述金屬-絕緣體-半導體結構具有取決于溫度的自動放電（112），其中所述方法（200）具有以下步驟：

在使用在測量時刻（114）加載在所述電容（304）上的電位（116，118）下確定（202）代表著所述傳感器（302）的溫度（T1，T2）的溫度信息（314）。

2.按權利要求1所述的方法（200），具有在所述測量時刻（114）之前進行的充電（106）的步驟（204），在所述充電的步驟中將所述電容（304）充電到起始電位（108），其中在所述測量時刻（114）在所述電容（304）上檢測電位（116，118）。

3.按前述權利要求中任一項所述的方法（200），具有在所述測量時刻（114）之前進行的分開的步驟（206），在所述分開的步驟中在分開時刻（110）將所述電容（304）至少在一側無電位地連接，其中在所述分開時刻（110）與所述測量時刻（114）之間等候一測量持續時間（120）。

4.按前述權利要求中任一項所述的方法（200），其中在所述確定的步驟（202）中此外在使用處理規定下確定所述溫度信息（314），其中處理函數描繪在所述測量時刻（114）在所述溫度（T1，T2）與所述電位（104）之間的關系。

5.按權利要求4所述的方法（200），其中在所述確定的步驟（202）中所述處理規定描繪通過與溫度（T1，T2）相關的自動放電引起的電壓降（112）。

6.按前述權利要求中任一項所述的方法（200），具有跟隨在所述測量時刻（114）之后的放電（122）的步驟（208），在所述放電的步驟中將所述電容放電到平衡電位（124）。

7.按前述權利要求中任一項所述的方法（200），具有另一個確定的步驟（202），在所述另一個確定的步驟中在使用在跟隨的時刻（114）加載在所述電容（304）上的另一個電位（116，118）下確定另一個溫度信息（314）。

8.用于在使用具有作為電容（304）來連接的金屬-絕緣體-半導體結構的傳感器（302）下測量溫度（T1，T2）的裝置（300），其中該裝置（300）具有以下特征：

用于在使用在測量時刻（114）加載在所述電容（304）上的電位（116，118）下確定代表著所述傳感器（302）的溫度（T1，T2）的溫度信息（314）的機構（318）。

9.按權利要求8所述的裝置（300），該裝置此外包括所述具有作為電容（304）來連接的金屬-絕緣體-半導體結構的傳感器（302）。

10.計算機程序，該計算機程序被設立用于，實施按前述權利要求中任一項所述的方法的所有步驟。

11.可機讀的存儲介質，其具有存儲在其上的按權利要求10所述的計算機程序。