[發明專利]用于原位遺傳分析的光學掃描系統

有效

• 申請號: 201580056036.4
• 申請日: 2015-10-16
• 公開（公告）號: CN107076975B
• 公開（公告）日: 2020-09-11
• 發明（設計）人: W·馮
• 申請（專利權）人: 億明達股份有限公司
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G02B21/36;H04N5/225;H04N5/232
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 葛青

1.一種共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，包括：

光源；

光束分離器；

透鏡；

TDI圖像傳感器；以及

TDI圖像傳感器孔徑機構，所述TDI圖像傳感器孔徑機構包括第一孔徑板，所述第一孔徑板由對所述TDI圖像傳感器檢測到的波長非光學透明的材料形成，所述第一孔徑板包括多個狹縫以將光聚焦到所述TDI圖像傳感器的多個像素列上，其中所述多個狹縫的位置對應于所述TDI圖像傳感器的多個像素列的位置。

2.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述TDI圖像傳感器孔徑機構定位在所述TDI圖像傳感器前方的光學共軛平面中。

3.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述TDI圖像傳感器包括長線性傳感器。

4.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述TDI圖像傳感器孔徑機構定位在與所述TDI圖像傳感器共軛的中間圖像平面中。

5.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述TDI圖像傳感器孔徑機構包括具有可切換位置的第一組孔徑和第二組孔徑。

6.如權利要求5所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述第一組孔徑相對于所述TDI圖像傳感器上的相對應的第一組像素定位，并且所述第二組孔徑相對于所述TDI圖像傳感器上的相對應的第二組像素定位。

7.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述TDI圖像傳感器孔徑機構還包括第二孔徑板，所述第二孔徑板由對所述TDI圖像傳感器檢測到的波長非光學透明的材料形成，所述第二孔徑板包括多個狹縫，其中所述第一孔徑板和所述第二孔徑板的位置在樣本的成像過程中是機械地可切換的。

8.如權利要求7所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述第一孔徑板的多個狹縫對應于所述TDI圖像傳感器的偶數像素列，并且其中，所述第二孔徑板的多個狹縫對應于所述TDI圖像傳感器的奇數像素列，使得當發生切換時，在任何給定的時刻僅一個孔徑板位于所述TDI圖像傳感器的前方。

9.如權利要求7所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中控制器將所述第一孔徑板和所述第二孔徑板的切換循環與TDI掃描讀出中的整數個循環的TDI線掃描速度同步。

10.如權利要求9所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，在第一成像半循環中，所述第一孔徑板切換到所述TDI圖像傳感器前方的位置，由此所述TDI圖像傳感器的奇數像素列被打開，并且所述TDI圖像傳感器的偶數像素列被阻擋。

11.如權利要求9所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，在第二成像半循環中，所述第二孔徑板切換到所述TDI圖像傳感器前方的位置，由此所述TDI圖像傳感器的偶數像素列被打開，并且所述TDI圖像傳感器的奇數像素列被阻擋。

12.如權利要求1所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，還包括：其上設置有一個或多個聚焦跟蹤機構的基底。

13.如權利要求12所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述聚焦跟蹤機構包括聚焦條帶。

14.如權利要求13所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述聚焦條帶包括高反射材料。

15.如權利要求12所述的共焦時間延遲積分(TDI)線掃描成像系統，其中，所述聚焦跟蹤機構包括切割成組織樣本的凹槽。