[發明專利]通過X射線準直來控制的探測器旋轉

有效

• 申請號: 201580055465.X
• 申請日: 2015-10-09
• 公開（公告）號: CN106793990B
• 公開（公告）日: 2021-03-26
• 發明（設計）人: H-I·馬克
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦有限公司
• 主分類號: A61B6/06
• 分類號: A61B6/06
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王英;劉炳勝

1.一種X射線探測器布置(10)，包括：

X射線探測器單元(12)；以及

旋轉單元(14)；

其中，所述X射線探測器單元(12)包括X射線探測器(16)，所述X射線探測器具有被布置為探測器表面(18)的多個X射線探測元件；

其中，所述旋轉單元(14)被配置為，在接收到旋轉信號(22)后，關于至少在與所述探測器表面(18)的相交點處垂直于所述探測器表面的軸(20)來旋轉所述X射線探測器(16)，使得基于X射線源布置的準直器配置在所述探測器表面(18)上的準直場(52)被限制在所述探測器表面(18)內，所述X射線源布置用于朝向所述X射線探測器單元提供X射線輻射；并且

其中，所述旋轉信號是基于所述準直場(52)與所述探測器表面(18)之間的幾何關系而被提供的。

2.根據權利要求1所述的X射線探測器布置(10)，其中，所述旋轉信號(22)被提供為主-從命令信號；并且

其中，所述旋轉單元(14)被配置為從屬單元，以接收所述主-從命令信號。

3.根據權利要求1或2所述的X射線探測器布置(10)，其中，所述旋轉信號(22)被提供用于控制所述旋轉單元(14)以將所述X射線探測器(16)至少從第一旋轉位置(24)旋轉到第二旋轉位置(26)；并且

其中，所述第二旋轉位置與所述第一旋轉位置之間的角位移(28)由所述旋轉信號(22)來確定。

4.根據權利要求3所述的X射線探測器布置(10)，其中，所述X射線探測器(16)具有一形狀，所述形狀具有第一延伸(30、32)和第二延伸(34、36)，其中，所述第一延伸大于所述第二延伸；

其中，在所述第二旋轉位置(26)中的第一延伸(32)相對于在所述第一旋轉位置(24)中的第一延伸(30)以所述角位移被布置；并且其中，在所述第二旋轉位置(26)中的第二延伸(36)相對于在所述第一旋轉位置(24)中的第二延伸(34)以所述角位移被布置。

5.根據權利要求4所述的X射線探測器布置(10)，其中，所述X射線探測器(16)具有矩形形狀。

6.根據權利要求1或2所述的X射線探測器布置(10)，其中，所述準直器配置包括如下項的組中的至少一項：

準直器開口的尺寸；

準直器位置；

準直器取向；以及

探測器平面中的準直的尺寸。

7.一種X射線圖像采集系統(100)，包括：

X射線源布置(40)；以及

根據權利要求1-6中的任一項所述的X射線探測器布置(10)；

其中，所述X射線源布置(40)包括X射線源單元(42)、準直器單元(44)和控制單元(46)；

其中，所述X射線源單元(42)被配置為生成朝向所述X射線探測器布置(10)的X射線輻射(48)；

其中，所述準直器單元(44)包括具有能調節的尺寸的準直器開口(50)，以調節穿過所述準直器開口的所述X射線輻射(48)的形狀；

其中，所述控制單元(46)被配置為探測并評估基于所述準直器配置在所述探測器表面(18)上的準直場(52)與所述探測器表面(18)之間的幾何關系并且作為響應將所述旋轉信號(22)提供到所述旋轉單元(14)；并且

其中，所述旋轉單元(14)基于所述旋轉信號(22)來旋轉所述X射線探測器(16)，使得所述準直場(52)被限制在所述探測器表面(18)內。

8.根據權利要求7所述的X射線圖像采集系統(100)，其中，所述準直器單元(44)是主控單元的至少部分，并且所述X射線探測器單元(12)是從屬單元的至少部分。