[發明專利]隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷料卷繞體有效
| 申請號: | 201580054771.1 | 申請日: | 2015-09-18 |
| 公開(公告)號: | CN106796182B | 公開(公告)日: | 2018-11-23 |
| 發明(設計)人: | 加集功士;今佑介;坂本達哉;王劍 | 申請(專利權)人: | 住友化學株式會社 |
| 主分類號: | G01N21/892 | 分類號: | G01N21/892 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 劉文海 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 隔膜 料及 制造 方法 卷繞 以及 裝置 | ||
隔膜的制造方法包含:卷繞工序,將檢測出缺陷(D)的隔膜(12a、12b)卷繞于芯(81、53);以及第一缺陷碼施加工序,將包括缺陷(D)在隔膜(12a、12b)的長度方向上的位置信息的缺陷碼(DC2)形成在卷繞于芯(81、53)的隔膜(12a、12b)的最外周部(86、86b)、或供隔膜(12a、12b)卷繞的芯(81、53)。
技術領域
本發明涉及鋰離子二次電池中使用的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷繞體、隔膜卷料卷繞體、以及隔膜卷料制造裝置。
背景技術
已知具有光學膜的片狀產品的缺陷檢查裝置(專利文獻1)。該缺陷檢查裝置將從保護膜檢查部得到的缺陷的信息與其位置信息、制造識別信息一起作為碼數據(二維碼、QR碼(注冊商標))而以規定間距形成在PVA膜卷料的一端面。
在先技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本公開專利公報特開2008-116437號公報(2008年5月22日公開)
發明內容
發明所要解決的課題
然而,在鋰離子二次電池所使用的隔膜的制造中,在隔膜卷料中產生缺陷,為了確定隔膜卷料中產生的該缺陷的位置而需要投入大量的勞力。
專利文獻1所記載的形成于一端面的碼數據位于由芯以及卷繞于芯的隔膜構成的卷繞體的內側,因此無法在卷繞體的狀態下讀取,難以確定卷繞于芯的隔膜的缺陷位置。
本發明的目的在于提供能夠容易地確定卷繞于芯的隔膜的缺陷位置的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷繞體、隔膜卷料卷繞體、以及隔膜卷料制造裝置。
用于解決課題的方案
為了解決上述的課題,本發明所涉及的隔膜的制造方法的特征在于,包含:卷繞工序,將檢測出缺陷的隔膜卷繞于芯;以及第一缺陷碼施加工序,將包括所述缺陷在所述隔膜的長度方向上的位置信息的第一缺陷碼施加于所述芯、被卷繞的所述隔膜的側面、被卷繞的所述隔膜的外層、或由所述芯以及被卷繞的所述隔膜構成的卷繞體的包裝體。
根據該特征,對所述芯、被卷繞的所述隔膜的側面、被卷繞的所述隔膜的外層、或由所述芯以及被卷繞的所述隔膜構成的卷繞體的包裝體施加包括缺陷在隔膜的長度方向上的位置信息的第一缺陷碼。因此,通過讀取能夠向卷繞體的外側露出的第一缺陷碼,能夠容易地確定卷繞于芯的隔膜的缺陷位置。
為了解決上述的課題,本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法的特征在于,包含:卷繞工序,將檢測出缺陷的隔膜卷料卷繞于芯;以及第一缺陷碼施加工序,將包括所述缺陷在所述隔膜卷料的長度方向上的位置信息的第一缺陷碼施加于所述芯、被卷繞的所述隔膜的側面、被卷繞的所述隔膜的外層、或由所述芯以及被卷繞的所述隔膜構成的卷繞體的包裝體。
根據該特征,對所述芯、被卷繞的所述隔膜卷料的側面、被卷繞的所述隔膜卷料的外層、或由所述芯以及被卷繞的所述隔膜卷料構成的卷繞體的包裝體施加包括缺陷在隔膜卷料的長度方向上的位置信息的第一缺陷碼。因此,通過讀取能夠向卷繞體的外側露出的第一缺陷碼,能夠容易地確定卷繞于芯的隔膜卷料的缺陷位置。
在本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法中,優選還包含第二缺陷碼施加工序,在該第二缺陷碼施加工序中,將包括所述缺陷在所述隔膜卷料的寬度方向上的位置信息的第二缺陷碼施加于所述隔膜卷料的寬度方向的兩端的部位。
根據上述結構,只要正常地讀取兩端的第二缺陷碼中的任一方即可,因此第二缺陷碼的讀取的可靠性提高。例如,即使在隔膜卷料的寬度方向的一方的端部產生褶皺、或所形成的一方的第二缺陷碼缺失,也能夠讀取另一方的第二缺陷碼。
在本發明所涉及的隔膜卷料的制造方法中,優選通過所述第二缺陷碼的形成位置來表示所述缺陷在所述隔膜卷料的長度方向上的位置。
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