[發明專利]用于菌斑檢測的設備和方法有效
| 申請號: | 201580052578.4 | 申請日: | 2015-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN106793949B | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發明(設計)人: | O·T·J·A·弗梅尤倫 | 申請(專利權)人: | 皇家飛利浦有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 鄭立柱 |
| 地址: | 荷蘭艾恩*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 檢測 設備 方法 | ||
1.一種菌斑檢測設備(70),包括:
激發源(72),被配置用于將波長調制光(λex)(78)輸出至評價部位(80),所述波長調制光在波長調制頻率處被調制成:具有周期性改變波長,所述周期性改變波長以在以下區域中的波長為中心,在所述區域中,對于特定的菌斑的吸收和熒光激發光譜中的一個或多個呈非線性,其中所述特定的菌斑展現出與(i)不是所述特定的菌斑的菌斑和(ii)除所述菌斑之外的干擾物種中的一個或多個的光譜特性不同的光譜特性;
光檢測器(74),被配置用于檢測從所述評價部位(80)接收的光(λsite)(84),其中所檢測到的光(λsite)(84)包括(i)部位反射光(λrefl)和(ii)部位發射光(λem)中的一個或多個;和
控制器(76),可操作地耦合至所述激發源(72)和所述光檢測器(74),并且被配置成(i)控制所述激發源(72)輸出所述波長調制光,并且(ii)通過檢測在(i)吸收光譜和(ii)激發光譜中的至少一個內所包含的所述波長調制頻率的高于基波的至少一個高次諧波,來檢測菌斑的存在,其中所述吸收光譜包括部位反射光(λrefl),所述激發光譜包括在部位發射光(λem)中的熒光發射。
2.如權利要求1所述的設備(70),其中所述控制器(76)包括:
激發控制模塊(88),用于經由至少一個激發控制信號來控制所述激發源(72)輸出所述波長調制光,和
諧波分量檢測模塊(90),用于檢測在(i)包括部位反射光(λrefl)的吸收光譜和(ii)包括在部位發射光(λem)中的熒光發射的激發光譜中的至少一個內所包含的所述波長調制頻率的高于基波分量的至少一個諧波分量。
3.如權利要求2所述的設備(70),其中所述諧波分量檢測模塊(90)包括至少一個鎖定放大器,其被配置成檢測所述波長調制頻率的所述至少一個高次諧波分量并拒絕以其他頻率調制的信號。
4.如權利要求1所述的設備(70),其中所述控制器(76)輸出作為檢測到的菌斑的函數并指示出在所述評價部位(80)處的特性的至少一個信號,所述特性包括從由(i)存在菌斑、(ii)未成熟菌斑、(iii)成熟菌斑和(iv)不存在菌斑構成的組中選出的至少一個。
5.如權利要求1所述的設備(70),其中所述周期性改變波長包括使用如下波長:包括(i)對準在所述區域內的中心波長、(ii)比所述中心波長短的波長、和(iii)比所述中心波長長的波長。
6.如權利要求1所述的設備(70),進一步包括:
光學器件模塊(92),其包括光學濾波器、光纖、收集光學元件和聚焦光學元件中的至少一個,其光學地耦合在(i)從所述激發源(72)到所述評價部位(80)的所述波長調制光(λex)(78)和(ii)從所述評價部位(80)到所述光檢測器(74)的所檢測到的光(λsite)(84)中的至少一個的路徑上。
7.如權利要求2所述的設備(70),
其中所述激發源(72)包括用于輸出三個不同波長的光的三個LED(106),
其中所述光檢測器(74)包括至少一個光電檢測器(120),并且
其中所述激發控制模塊(88)包括序列發生器,用于輸出被配置用于對所述三個LED(106)的激發進行排序的所述至少一個激發控制信號,以產生合成光輸出(78),所述合成光輸出具有以所述區域內的所述波長為中心的所述周期性改變波長。
8.如權利要求7所述的設備(70),
其中所述三個LED(106)包括各輸出窄光譜光的藍色LED,并且所述三個不同的窄光譜光包括438nm、444nm和450nm。
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