[發(fā)明專利]薄膜晶體管及其制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580049981.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106796958A | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 樸鎮(zhèn)成;玉敬喆;鄭賢浚 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 漢陽(yáng)大學(xué)校產(chǎn)學(xué)協(xié)力團(tuán) |
| 主分類號(hào): | H01L29/786 | 分類號(hào): | H01L29/786;H01L21/34 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 呂琳,宋東穎 |
| 地址: | 韓國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜晶體管 及其 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及薄膜晶體管及其制作方法,更詳細(xì)地,薄膜晶體管及其制作方法包括:活性圖案,由氮化物形成;以及保護(hù)圖案,配置于上述活性圖案上,由非氮化物形成。
背景技術(shù)
最近,顯示器面前處于大面積化、最高分辨率(HUD,Ultra High Definition)化、高速驅(qū)動(dòng)化,并且,具有對(duì)于能夠適用于可穿戴設(shè)備(wearable device)等的柔性顯示器的要求。以往的非晶質(zhì)硅半導(dǎo)體元件(Amorphous Si TFT)具有低的移動(dòng)度(0.5cm2/Vs以下),因此,很難使用非晶質(zhì)硅半導(dǎo)體元件來(lái)實(shí)現(xiàn)大面積及最高分辨率的顯示器,并很難體現(xiàn)柔性顯示器裝置。
為了解決上述問(wèn)題,正在進(jìn)行著對(duì)于有機(jī)薄膜晶體管、氧化物薄膜晶體管等的研究。例如,在韓國(guó)專利公開(kāi)公報(bào)10-2011-0095530(申請(qǐng)?zhí)?0-2010-0015052)公開(kāi)了減少工作電壓,為了制作工序的簡(jiǎn)化而包括在上部具有凹陷區(qū)域的絕緣膜及配置于上述柵極絕緣膜的上述凹陷區(qū)域內(nèi)的有機(jī)半導(dǎo)體層的有機(jī)薄膜晶體管。
作為另一例,在韓國(guó)專利公開(kāi)公報(bào)10-2008-0054941(申請(qǐng)?zhí)?0-2006-0127671)中公開(kāi)了為了防止在大面積顯示裝置發(fā)生的信號(hào)延遲,為使化合物半導(dǎo)體層和源/漏電極良好地接觸,而由第一導(dǎo)電層和第二導(dǎo)電層形成源/漏電極的技術(shù),上述第二導(dǎo)電層由低電阻形成。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題
本發(fā)明所要解決的第一技術(shù)問(wèn)題在于,提供高可靠性的薄膜晶體管及其制作方法。
本發(fā)明所要解決的再一技術(shù)問(wèn)題在于,提供高移動(dòng)度的薄膜晶體管及其制作方法。
本發(fā)明所要解決的另一技術(shù)問(wèn)題在于,提供收益率得到提高的薄膜晶體管的制作方法。
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題并不局限于上述技術(shù)問(wèn)題。
技術(shù)方案
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供薄膜晶體管。
根據(jù)一實(shí)施例,薄膜晶體管可包括:基板;活性圖案(active pattern),配置于上述基板上,包括氮化物(nitride);保護(hù)圖案,配置于上述活性圖案上,包括非氮化物(non nitride);柵電極,與上述活性電極重疊;以及柵極絕緣膜,形成于上述柵電極及上述活性圖案之間。
根據(jù)一實(shí)施例,上述保護(hù)圖案可由半導(dǎo)體性非氮化物形成,上述活性圖案具有大于上述保護(hù)圖案的移動(dòng)度。
根據(jù)一實(shí)施例,上述薄膜晶體管可包括:鈍化膜,覆蓋上述保護(hù)圖案;源電極,貫通上述鈍化膜,與靠近上述柵電極一側(cè)的上述保護(hù)圖案的一部分相接觸;以及漏電極,貫通上述鈍化膜,與靠近上述柵電極一側(cè)的上述保護(hù)圖案的一部分相接觸。
根據(jù)一實(shí)施例,上述薄膜晶體管還可包括上述柵電極一側(cè)的源電極及上述柵電極另一側(cè)的漏電極,上述源電極及上述漏電極分別與靠近上述柵電極的上述一側(cè)及上述另一側(cè)的上述保護(hù)圖案的一部分相接觸。
根據(jù)一實(shí)施例,上述活性圖案可配置于上述保護(hù)圖案及上述柵電極之間。
根據(jù)一實(shí)施例,上述保護(hù)圖案可配置于上述活性圖案及上述柵電極之間。
根據(jù)一實(shí)施例,上述活性圖案可由第一元素、第二元素及氮的化合物形成,上述保護(hù)圖案由上述第一元素及上述第二元素的化合物形成。
根據(jù)一實(shí)施例,上述第一元素可包括鋅,上述第二元素包括氧。
根據(jù)一實(shí)施例,上述保護(hù)圖案的厚度可以小于上述活性圖案的厚度。
根據(jù)一實(shí)施例,上述保護(hù)圖案可以與上述活性圖案直接接觸(directly contact)。
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供薄膜晶體管的制作方法。
根據(jù)一實(shí)施例,上述薄膜晶體管的制作方法可包括:在基板上形成包括氮化物的活性膜的步驟;在上述活性膜上形成包括非氮化物的保護(hù)膜的步驟;以及按上述保護(hù)膜及上述活性膜依次形成圖案,來(lái)形成層疊于上述基板上的活性圖案及保護(hù)圖案的步驟,上述保護(hù)膜從用于上述活性膜的形成圖案的溶液工序保護(hù)上述活性膜。
根據(jù)一實(shí)施例,上述活性膜利用可包括第一元素的第一源、包括第二元素的第二源及包括氮的第三源形成,上述保護(hù)膜利用上述第一元素及上述第二元素來(lái)與通過(guò)上述活性膜的制作方法相同制作方法形成。
根據(jù)一實(shí)施例,在上述薄膜晶體管的制作方法中,在形成上述活性膜之前,還可包括:在上述基板上形成柵電極的步驟;以及在柵電極上形成柵極絕緣膜的步驟。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





