[發明專利]基于單元電壓分布單獨測量存儲器磨損和數據保持在審
| 申請號： | 201580047851.4 | 申請日： | 2015-10-14 |
| 公開（公告）號： | CN106688044A | 公開（公告）日： | 2017-05-17 |
| 發明（設計）人： | N.R.達拉赫;L.M.帕克;S.A.戈羅別茨 | 申請（專利權）人： | 桑迪士克科技有限責任公司 |
| 主分類號： | G11C11/56 | 分類號： | G11C11/56;G11C16/34;G11C29/52 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所11105 | 代理人： | 邱軍 |
| 地址： | 美國得克*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 單元 電壓 分布 單獨 測量 存儲器 磨損 數據 保持 | ||
【權利要求書】：
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