[發(fā)明專利]一種用于驗收測試和調(diào)試線性加速器的方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580044616.1 | 申請日: | 2015-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN106794358B | 公開(公告)日: | 2019-09-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | S·亞達(dá)納普蒂;S·M·高都;S·穆蒂克;T·鮑里克齊 | 申請(專利權(quán))人: | 華盛頓大學(xué);加利福尼亞大學(xué)董事會 |
| 主分類號: | A61N5/10 | 分類號: | A61N5/10;G21C17/00;H05H9/00 |
| 代理公司: | 北京思益華倫專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11418 | 代理人: | 趙飛;郭紅麗 |
| 地址: | 美國密*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 電子 影像 裝置 epid 線性 加速器 linac 驗收 調(diào)試 持續(xù) 基準(zhǔn) 測試 | ||
1.一種用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,所述方法包括:
從包括線性加速器(LINAC)和電子射野影像裝置(EPID)的參考機(jī)收集第一參考數(shù)據(jù),其中所述參考數(shù)據(jù)至少表示與所述參考機(jī)的所述LINAC的參數(shù)的改變相關(guān)的、所述參考機(jī)的所述EPID處的輻射測量的改變量;
將所述第一參考數(shù)據(jù)儲存在與至少一個處理器相關(guān)聯(lián)的存儲器中;
從包括LINAC和EPID的測試機(jī)收集機(jī)器性能數(shù)據(jù),其中所述機(jī)器性能數(shù)據(jù)至少表示與所述測試機(jī)的所述LINAC的參數(shù)的改變相關(guān)的、所述測試機(jī)的所述EPID處的輻射測量的改變量;以及
使用分析軟件程序?qū)⑺龅谝粎⒖紨?shù)據(jù)與所述機(jī)器性能數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以評估所述測試機(jī)的精確性,其中所述處理器被配置用于執(zhí)行所述分析軟件程序。
2.如權(quán)利要求1所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,還包括:
使所述收集機(jī)器性能數(shù)據(jù)的步驟和將所述第一參考數(shù)據(jù)與所述機(jī)器性能數(shù)據(jù)進(jìn)行比較的步驟自動化,其中所述處理器被配置用于執(zhí)行適于進(jìn)行所述自動化步驟的計算機(jī)程序。
3.如權(quán)利要求1所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,其中所述輻射測量包括點輻射劑量、劑量輪廓、平面劑量分布、百分比深度劑量和三維劑量分布。
4.如權(quán)利要求3所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,其中所述參數(shù)包括由多個內(nèi)部機(jī)器配置改變和束修正器插入改變的參數(shù)。
5.如權(quán)利要求1所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,其中所述精確性是通過使用公差數(shù)據(jù)而計算的,其中所述公差數(shù)據(jù)表示在所述參考機(jī)的所述EPID處的所述輻射測量與常規(guī)標(biāo)準(zhǔn)輻射測量之間的預(yù)定關(guān)系。
6.如權(quán)利要求1所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,還包括:
收集第二參考數(shù)據(jù),其中所述第二參考數(shù)據(jù)包括多個治療計劃和這些治療計劃的預(yù)定結(jié)果;
將所述第二參考數(shù)據(jù)儲存在所述存儲器中;
使用測試性能引擎,基于標(biāo)準(zhǔn)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行多個標(biāo)準(zhǔn)測試,其中所述測試性能引擎被配置用于針對每個標(biāo)準(zhǔn)測試生成至少一個測試性能結(jié)果,其中所述處理器被配置用于執(zhí)行所述測試性能引擎,其中至少一個標(biāo)準(zhǔn)測試涉及使用所述測試機(jī)來測量由所述測試機(jī)的所述LINAC生成的輻射測量;
使用所述分析軟件程序?qū)⑺鰷y試性能結(jié)果與所述第二參考數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,其中將所述測試性能結(jié)果與所述治療計劃的至少一個預(yù)定結(jié)果進(jìn)行比較,其中所述處理器被配置用于執(zhí)行所述分析軟件程序;以及
使用所述分析軟件程序確定每個所述測試性能結(jié)果是否滿足多個公差標(biāo)準(zhǔn),其中所述公差標(biāo)準(zhǔn)是對應(yīng)于所述標(biāo)準(zhǔn)測試中的至少一個的預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)。
7.如權(quán)利要求6所述的用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的方法,其中所述標(biāo)準(zhǔn)輸入數(shù)據(jù)包括標(biāo)準(zhǔn)束數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)圖像數(shù)據(jù)、標(biāo)準(zhǔn)輪廓數(shù)據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)治療計劃。
8.一種用于驗收測試和調(diào)試線性加速器(LINAC)的系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
存儲器,其儲存第一參考數(shù)據(jù),其中所述第一參考數(shù)據(jù)是從包括LINAC和電子射野影像裝置(EPID)的參考機(jī)收集的,其中所述參考數(shù)據(jù)至少表示與所述參考機(jī)的所述LINAC的參數(shù)的改變相關(guān)的、所述參考機(jī)的所述EPID處的輻射測量的改變量;
測試機(jī),其包括LINAC和EPID;以及
處理器,其與所述存儲器相關(guān)聯(lián),其中所述處理器被配置用于執(zhí)行分析軟件程序,其中所述分析軟件程序從所述測試機(jī)收集機(jī)器性能數(shù)據(jù),其中所述機(jī)器性能數(shù)據(jù)至少表示與所述測試機(jī)的所述LINAC的參數(shù)的改變相關(guān)的、所述測試機(jī)的所述EPID處的輻射測量的改變量,并且將所述第一參考數(shù)據(jù)與所述機(jī)器性能數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,以評估所述測試機(jī)的精確性。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華盛頓大學(xué);加利福尼亞大學(xué)董事會,未經(jīng)華盛頓大學(xué);加利福尼亞大學(xué)董事會許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580044616.1/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





