[發明專利]用于對電荷儲存器件進行測試的儀器化包在審
| 申請號： | 201580040481.1 | 申請日： | 2015-07-24 |
| 公開（公告）號： | CN106537129A | 公開（公告）日： | 2017-03-22 |
| 發明（設計）人： | 伊恩·W·漢特;格蘭特·W·科瑞斯托弗克;迪安·柳比西奇 | 申請（專利權）人： | 核科學股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N27/27 | 分類號： | G01N27/27;G01R1/04;G01R31/01;G01R31/36 |
| 代理公司： | 北京市立方律師事務所11330 | 代理人： | 王榮 |
| 地址： | 美國馬*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 電荷 儲存 器件 進行 測試 儀器 | ||
【說明書】：
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