[發明專利]試樣分析用基板和試樣分析裝置

在審

• 申請號: 201580035558.6
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN106662596A
• 公開（公告）日: 2017-05-10
• 發明（設計）人: 佐伯將之;城野政博;岡本房俊;近藤和也
• 申請（專利權）人: 松下健康醫療控股株式會社
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N35/08;G01N37/00
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所11247
• 代理人: 張軼楠,段承恩

1.一種試樣分析用基板，用于使液體試樣中的分析物和配體產生結合反應，該基板具備：

基體基板，其具有旋轉軸和預定的厚度；

腔室，其位于所述基體基板內，構成為保持包含分析物和在磁性顆粒的表面固定化的配體的液體試樣；以及

至少1個磁體，其配置于在所述腔室內捕捉所述磁性顆粒的位置。

2.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體設置于接近所述腔室的底面的位置。

3.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體設置于接近所述基體基板的所述腔室的壁面的位置，

所述壁面是具有因旋轉產生的離心力所作用的方向的法線的面。

4.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體設置于接近所述基體基板的所述腔室的壁面的位置，

所述壁面是對抗因旋轉產生的離心力而支撐所述液體試樣的一側的面。

5.根據權利要求1所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體設置為能夠對于所述基體基板裝卸。

6.根據權利要求5所述的試樣分析用基板，

所述基體基板具有上表面和下表面，

所述至少1個磁體設置為能夠從所述上表面裝卸。

7.根據權利要求6所述的試樣分析用基板，

所述基體基板在所述上表面具有容納所述至少1個磁體的容納室。

8.根據權利要求6所述的試樣分析用基板，

在所述至少1個磁體安裝于所述基體基板時，所述至少1個磁體從所述上表面突出。

9.根據權利要求5所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體設置于磁體單元，

所述磁體單元對于所述基體基板被裝卸，由此所述至少1個磁體被裝卸。

10.根據權利要求9所述的試樣分析用基板，

所述磁體單元設置為能夠從所述基體基板的下表面裝卸。

11.根據權利要求9所述的試樣分析用基板，

在所述磁體單元安裝于所述基體基板時，所述至少1個磁體配置于接近所述腔室的位置。

12.根據權利要求9所述的試樣分析用基板，

所述基體基板具有容納室，該容納室在所述磁體單元安裝于所述基體基板時容納所述至少1個磁體。

13.根據權利要求1～12中任一項所述的試樣分析用基板，

所述至少1個磁體為多個。

14.根據權利要求1～13中任一項所述的試樣分析用基板，

還具備平衡件，該平衡件用于在安裝了所述至少1個磁體時使所述基板的重心與所述旋轉軸大致一致。

15.根據權利要求14所述的試樣分析用基板，

所述平衡件為非磁體。

16.根據權利要求14或15所述的試樣分析用基板，

所述平衡件被設置為能夠裝卸。

17.根據權利要求14所述的試樣分析用基板，

能夠對所述至少1個磁體和所述平衡件彼此進行物理識別。

18.一種試樣分析裝置，能夠使權利要求1～17中任一項所述的試樣分析用基板旋轉，該裝置具備：

馬達，其用于使所述試樣分析用基板旋轉；

驅動電路，其驅動所述馬達；以及

檢測機構，其利用所述試樣分析用基板的重量、磁性特性、光學特性、與旋轉負荷相對應的電流值或電壓值、旋轉加速度和穩定轉速中的至少1個，對是否安裝有所述至少1個磁體進行檢測。

19.根據權利要求18所述的試樣分析裝置，

還具備信號生成電路，該信號生成電路在所述檢測機構檢測到未安裝所述至少1個磁體的情況下，生成用于通知檢測結果的信號。

20.根據權利要求19所述的試樣分析用裝置，

所述信號生成電路生成用于輸出聲音、光或影像的信號。

21.根據權利要求18所述的試樣分析裝置，

旋轉軸相對于重力方向具有0度以上且90度以下的角度。