[發明專利]測量探頭的校準有效
| 申請號： | 201580033849.1 | 申請日： | 2015-04-23 |
| 公開（公告）號： | CN106471334B | 公開（公告）日： | 2019-12-06 |
| 發明（設計）人： | 史蒂芬·愛德華·盧默斯;馬克·科爾 | 申請（專利權）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分類號： | G01B21/04 | 分類號： | G01B21/04 |
| 代理公司： | 11413 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人： | 謝攀;劉繼富<國際申請>=PCT/GB2 |
| 地址： | 英國格*** | 國省代碼： | 英國;GB |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測量 探頭 校準 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于瑞尼斯豪公司，未經瑞尼斯豪公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580033849.1/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：多波長共焦測量裝置
- 下一篇：光反射型傳感器和電子設備
