[發明專利]氧化物燒結體、濺射靶及使用該靶得到的氧化物半導體薄膜在審
| 申請號: | 201580029806.6 | 申請日: | 2015-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN106414366A | 公開(公告)日: | 2017-02-15 |
| 發明(設計)人: | 中山德行;西村英一郎;松村文彥;井藁正史 | 申請(專利權)人: | 住友金屬礦山株式會社 |
| 主分類號: | C04B35/00 | 分類號: | C04B35/00;C01G15/00;C23C14/08;C23C14/34;H01L21/20;H01L21/363 |
| 代理公司: | 隆天知識產權代理有限公司72003 | 代理人: | 李英艷 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氧化物 燒結 濺射 使用 得到 半導體 薄膜 | ||
【權利要求書】:
下載完整專利技術內容需要扣除積分,VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于住友金屬礦山株式會社,未經住友金屬礦山株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580029806.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





