[發(fā)明專利]用于光電式檢測(cè)選擋桿位置的設(shè)備和方法、選擋桿設(shè)備及其制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580029449.3 | 申請(qǐng)日: | 2015-05-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106464251B | 公開(公告)日: | 2020-04-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 亞歷山大·基里連科;卡爾斯滕·施特拉斯伯格;路德格爾·拉克 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | ZF腓德烈斯哈芬股份公司 |
| 主分類號(hào): | H03K17/94 | 分類號(hào): | H03K17/94;H03K17/968;F16H59/10;F16H59/04 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 李驥;車文 |
| 地址: | 德國(guó)腓德*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 光電 檢測(cè) 選擋桿 位置 設(shè)備 方法 及其 制造 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于ZF腓德烈斯哈芬股份公司,未經(jīng)ZF腓德烈斯哈芬股份公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580029449.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





