[發明專利]用超聲波進行的基于仿真的缺陷分析有效
| 申請號: | 201580026721.2 | 申請日: | 2015-04-23 |
| 公開(公告)號: | CN106461615B | 公開(公告)日: | 2019-12-13 |
| 發明(設計)人: | K.芬特;H.穆肖弗;S.J.魯皮奇 | 申請(專利權)人: | 西門子公司 |
| 主分類號: | G01N29/06 | 分類號: | G01N29/06;G01N29/11;G01N29/26;G01N29/44;G01S7/52 |
| 代理公司: | 11105 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 侯宇;馮歡 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超聲波 進行 基于 仿真 缺陷 分析 | ||
【說明書】:
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