[發(fā)明專利]癌細(xì)胞檢測(cè)用高分子膜及其制造方法、以及使用該高分子膜的癌細(xì)胞檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580022254.6 | 申請(qǐng)日： | 2015-04-30 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN106255881A | 公開（公告）日： | 2016-12-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 床波志保;中瀨生彥 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 公立大學(xué)法人大阪府立大學(xué);夏普株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01N33/566 | 分類號(hào)： | G01N33/566;C12M1/34;G01N33/543;G01N33/574;C12Q1/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人： | 李書慧;金世煜 |
| 地址： | 暫無(wú)信息 | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 癌細(xì)胞 檢測(cè) 高分子 及其 制造 方法 以及 使用 裝置 | ||
【說(shuō)明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于公立大學(xué)法人大阪府立大學(xué);夏普株式會(huì)社，未經(jīng)公立大學(xué)法人大阪府立大學(xué);夏普株式會(huì)社許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580022254.6/2.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
