[發(fā)明專利]浮游粒子檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580018544.3 | 申請日： | 2015-02-19 |
| 公開（公告）號： | CN106164643B | 公開（公告）日： | 2019-07-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 中井賢也;竹下伸夫 | 申請（專利權(quán)）人： | 三菱電機株式會社 |
| 主分類號： | G01N15/06 | 分類號： | G01N15/06;G01N21/53 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人： | 李輝;馬建軍 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 浮游 粒子 檢測 裝置 | ||
【說明書】：
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