[發明專利]監控借助勵磁線圈控制的接觸器的接觸器觸點狀態的方法有效
| 申請號: | 201580017581.2 | 申請日: | 2015-03-23 |
| 公開(公告)號: | CN107004540B | 公開(公告)日: | 2020-02-07 |
| 發明(設計)人: | O.科伊斯 | 申請(專利權)人: | 羅伯特·博世有限公司 |
| 主分類號: | H01H47/00 | 分類號: | H01H47/00;B60L58/21;B60L3/04;B60L3/00;G01R31/327;H01H47/02;H01H71/04 |
| 代理公司: | 72001 中國專利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 梁冰;宣力偉 |
| 地址: | 德國斯*** | 國省代碼: | 德國;DE |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 監控 借助 線圈 控制 接觸器 觸點 狀態 方法 | ||
1.用于對能夠借助于勵磁線圈(5)進行控制的接觸器(3)的接觸器觸點(4)的狀態進行監控的方法,所述接觸器(3)作為用于在電方面將電壓源與被連接在所述電壓源上的電的耗件設備分離的分離單元(2)的一部分進行運行,其特征在于,求得通過所述接觸器觸點(4)轉換的第一損耗功率(22)和通過所述勵磁線圈(5)轉換的第二損耗功率(23),將所述第一損耗功率(22)和所述第二損耗功率(23)作為輸入參量輸送給所述接觸器(3)的熱模型(21),所述熱模型(21)根據所述輸入參量中的至少一個輸入參量求得接觸器觸點溫度(24)并且將該接觸器觸點溫度作為輸出參量進行提供并且對所提供的所述接觸器觸點溫度(24)進行測評。
2.按權利要求1所述的方法,其特征在于,作為另一輸入參量將修正參量(30)輸送給所述熱模型(21),在通過所述熱模型(21)來求取所述接觸器觸點溫度(24)時對所述修正參量(30)加以考慮。
3.按權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述熱模型(21)根據所述輸入參量中的至少一個輸入參量來求得第一勵磁線圈溫度(25)并且將其作為另一輸出參量來提供,并且在不取決于所述熱模型(21)的情況下求得第二勵磁線圈溫度(29),其中,形成由所述第一勵磁線圈溫度(25)和所述第二勵磁線圈溫度(29)構成的差,并且將所述差作為修正參量(30)輸送給所述熱模型。
4.按權利要求3所述的方法,其特征在于,求得所述勵磁線圈(5)的電阻,并且根據所求得的所述電阻來確定所述第二勵磁線圈溫度(29)。
5.按權利要求3所述的方法,其特征在于,求得在所述勵磁線圈(5)上面下降的勵磁線圈電壓(27)以及通過所述勵磁線圈(5)流動的勵磁線圈電流(28),將所述勵磁線圈電壓(27)和所述勵磁線圈電流(28)作為輸入參量輸送給電阻模型(26),所述電阻模型(26)從所輸送的所述勵磁線圈電壓(27)和所輸送的所述勵磁線圈電流(28)中求得勵磁線圈電阻并且根據所述勵磁線圈電阻來求得所述第二勵磁線圈溫度(29)并且將其作為輸出參量來提供。
6.按權利要求5所述的方法,其特征在于,首先離線地對所述電阻模型(26)進行校準,其中,改變所述電阻模型(26)的輸入參量,并且通過測量技術來測定在此相應地出現的勵磁線圈溫度。
7.按權利要求1所述的方法,其特征在于,首先離線地對所述熱模型(21)進行校準,其中改變工作參數并且通過測量技術來測定在此相應地出現的接觸器觸點溫度或者相應地出現的接觸器觸點溫度和勵磁線圈溫度。
8.按權利要求7所述的方法,其特征在于,作為工作參數來改變對所述第一損耗功率(22)和/或所述第二損耗功率(23)產生影響的電壓和/或電流。
9.按權利要求6到8中任一項所述的方法,其特征在于,將在所述校準的范圍內所測定到的接觸器觸點溫度和/或勵磁線圈溫度與在此相應地所設定的工作參數和/或所設定的輸入參量作為數值加以保存,并且將這些數值配設給彼此。
10.按權利要求1所述的方法,其特征在于,對于所提供的所述接觸器觸點溫度(24)的測評包括閾值比較(33),其中,在超過預定義的閾值(34)時觸發行動。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于羅伯特·博世有限公司,未經羅伯特·博世有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580017581.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





