[發(fā)明專利]受激發(fā)射損耗顯微鏡裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580017560.0 | 申請日： | 2015-03-19 |
| 公開（公告）號： | CN106133580B | 公開（公告）日： | 2019-03-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 瀧口優(yōu) | 申請（專利權(quán)）人： | 浜松光子學株式會社 |
| 主分類號： | G02B21/06 | 分類號： | G02B21/06;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京尚誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人： | 楊琦 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 受激發(fā)射 損耗 顯微鏡 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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