[發明專利]用于取決于方向地測量光學輻射源的至少一個光度學或輻射測量學特征量的方法和測角輻射計有效
| 申請號： | 201580016320.9 | 申請日： | 2015-03-11 |
| 公開（公告）號： | CN106233103B | 公開（公告）日： | 2019-07-19 |
| 發明（設計）人： | 卡斯滕·第姆;托馬斯·賴納斯;迪特爾·索羅卡;康斯坦丁·雷德瓦爾德;彼得·蘭格 | 申請（專利權）人： | LMT光學測量技術（柏林）有限責任公司 |
| 主分類號： | G01J1/02 | 分類號： | G01J1/02;G01J3/50 |
| 代理公司： | 北京卓孚知識產權代理事務所(普通合伙) 11523 | 代理人： | 任宇;劉光明 |
| 地址： | 德國*** | 國省代碼： | 德國;DE |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 取決于 方向 測量 光學 輻射源 至少 一個 光度學 輻射 測量學 特征 方法 輻射計 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于LMT光學測量技術（柏林）有限責任公司，未經LMT光學測量技術（柏林）有限責任公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201580016320.9/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：用于監測食物廢物的系統和方法
- 下一篇：用于照明器表征的方法及設備
