[發明專利]測定誤差的校正方法以及電子器件特性測定裝置有效
| 申請號： | 201580011536.6 | 申請日： | 2015-02-17 |
| 公開（公告）號： | CN106062571B | 公開（公告）日： | 2018-10-30 |
| 發明（設計）人： | 森太一;影山智 | 申請（專利權）人： | 株式會社村田制作所 |
| 主分類號： | G01R27/28 | 分類號： | G01R27/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人： | 張鑫 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測定 誤差 校正 方法 以及 電子器件 特性 裝置 | ||
【說明書】：
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