[發明專利]特別用于對象的無損檢測的方法和X-射線檢測系統有效
| 申請號： | 201580010813.1 | 申請日： | 2015-01-16 |
| 公開（公告）號： | CN106164707B | 公開（公告）日： | 2019-02-15 |
| 發明（設計）人： | P·德萊賽特爾;S·凱尼格;A·馬德;D·瑙曼;J·尼蒂科基斯 | 申請（專利權）人： | 德國史密斯海曼有限責任公司 |
| 主分類號： | G01V5/00 | 分類號： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人： | 金旭鵬;肖冰濱 |
| 地址： | 德國威*** | 國省代碼： | 德國;DE |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 特別 用于 對象 無損 檢測 方法 射線 系統 | ||
【說明書】：
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