[發(fā)明專利]用于確定物體類型的方法和接近傳感器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580006246.2 | 申請日: | 2015-01-16 |
| 公開(公告)號: | CN105960601B | 公開(公告)日: | 2018-03-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王炳南;龍江;張坤好 | 申請(專利權(quán))人: | 三菱電機(jī)株式會社 |
| 主分類號: | G01V3/00 | 分類號: | G01V3/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人: | 呂俊剛,師瑋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 確定 物體 類型 方法 接近 傳感器 | ||
1.一種確定接近具有第一諧振頻率的諧振結(jié)構(gòu)的物體的類型的方法,該方法包括:
向所述諧振結(jié)構(gòu)提供電力信號,所述電力信號具有所述諧振頻率的電感區(qū)域或電容區(qū)域內(nèi)的第一非諧振頻率和第二非諧振頻率處的頻率成分,其中,所述諧振頻率的值介于所述第一非諧振頻率的值與所述第二非諧振頻率的值之間,其中,所述諧振結(jié)構(gòu)具有多個諧振頻率,并且其中,選擇所述第一非諧振頻率和所述第二非諧振頻率,使得僅所述第一諧振頻率的一個值介于所述第一非諧振頻率的值與所述第二非諧振頻率的值之間;
當(dāng)所述物體在所述第一諧振頻率之下和之上的頻率處改變被所述諧振結(jié)構(gòu)反射的電力信號的相位時,確定所述物體的類型為金屬物體,該方法還包括:
在所述第一非諧振頻率處檢測所述反射的電力信號的所述相位的第一改變;
在所述第二非諧振頻率處測試所述反射的電力信號的所述相位的第二改變;
當(dāng)檢測到所述第二改變時,確定所述物體的類型為金屬物體;以及
當(dāng)未檢測到所述第二改變時,確定所述物體的類型為非金屬物體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,所述測試包括:
在所述第二非諧振頻率處確定提供至所述諧振結(jié)構(gòu)的電力信號的相位與被所述諧振結(jié)構(gòu)反射的電力信號的相位之間的差異;以及
當(dāng)所述差異在閾值之上時,檢測到所述第二改變。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,該方法還包括:
將所述電力信號分為發(fā)送至所述諧振結(jié)構(gòu)的第一電力信號以及第二電力信號;以及
使用所述第二電力信號,檢測發(fā)送至所述諧振結(jié)構(gòu)的電力信號的相位。
4.一種接近傳感器,該接近傳感器包括:
傳感器單元,其包括具有多個諧振頻率的諧振結(jié)構(gòu),所述多個諧振頻率包括第一諧振頻率;
電源,其用于向所述諧振結(jié)構(gòu)提供具有多個頻率的電力信號,所述電力信號包括具有第一非諧振頻率的第一信號和具有第二非諧振頻率的第二信號,所述第一非諧振頻率和所述第二非諧振頻率在所述諧振頻率的電感區(qū)域或電容區(qū)域內(nèi),并且其中,所述第一非諧振頻率和所述第二非諧振頻率被選擇為使得僅所述第一諧振頻率的一個值介于所述第一非諧振頻率的值與所述第二非諧振頻率的值之間;
檢測單元,其用于在物體接近所述傳感器單元時檢測所述第一信號的相位的第一改變和所述第二信號的相位的第二改變中的一個或兩個,其中,所述檢測單元在所述第一非諧振頻率處檢測所述電力信號的所述相位的所述第一改變,并且在所述第二非諧振頻率處測試所述電力信號的所述相位的所述第二改變;以及
處理器,其用于在檢測到所述第一改變和所述第二改變二者時確定所述物體的類型為金屬物體,并且在僅檢測到所述第一改變和所述第二改變中的一個時確定所述物體的類型為非金屬物體,
其中,所述處理器在所述第一非諧振頻率或所述第二非諧振頻率處確定提供至所述諧振結(jié)構(gòu)的電力信號的相位與被所述諧振結(jié)構(gòu)反射的電力信號的相位之間的差異,并且在所述差異在閾值之上時檢測到所述第一改變或所述第二改變。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的接近傳感器,其中,所述第一非諧振頻率和所述第二非諧振頻率在所述第一諧振頻率的電感區(qū)域或電容區(qū)域內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的接近傳感器,其中,所述電源通過傳輸線向所述傳感器單元供電,其中,所述檢測單元包括耦合器,所述耦合器連接至所述傳輸線以接收由所述電源提供的電力信號和從所述傳感器單元反射的電力信號。
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