[發明專利]高溫部件的溫度推斷方法、亞穩四方相的含量測定方法及劣化判定方法

有效

• 申請號: 201580000769.6
• 申請日: 2015-02-05
• 公開（公告）號: CN105793683B
• 公開（公告）日: 2019-03-26
• 發明（設計）人: 吳瑞芬;鳥越泰治;永野一郎;岡島芳史;水流靖彥
• 申請（專利權）人: 三菱重工業株式會社
• 主分類號: G01K11/00
• 分類號: G01K11/00
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 雒運樸

1.一種溫度推斷方法，測定包含于在高溫部件的表面形成的涂布層中的亞穩四方相的含量，并根據所測定的所述亞穩四方相的含量，推斷所述高溫部件的表面溫度，其中，

所述溫度推斷方法具有如下步驟：

將通過X射線衍射法對以按照所確定的多個加熱溫度而確定的多個加熱時間進行了加熱處理的多個所述涂布層的試驗用部件進行測定的各衍射結果、以及對預先已知亞穩四方相、四方相、立方相的含量的部件的基于X射線衍射法的衍射結果，通過進行里特維德分析而算出包含于多個各試驗用部件中的亞穩四方相的含量，并存儲與各所述試驗用部件對應的加熱溫度、加熱時間及亞穩四方相的含量的數據，并根據存儲的數據，算出對所述試驗用部件的加熱時間、加熱溫度及亞穩四方相的含量的關系式的步驟；

在規定溫度以上的加熱溫度下進行了加熱處理的所述涂布層的測定用部件，在所述加熱處理中的加熱時間已知的情況下，對所述測定用部件的基于X射線衍射法的衍射結果、及預先已知亞穩四方相、四方相及立方相的含量的部件的基于X射線衍射法的衍射結果，通過進行里特維德分析而算出包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量的步驟；及

根據所述測定用部件的加熱時間、算出的包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量及所述關系式，算出所述測定用部件的加熱溫度的步驟。

2.一種溫度推斷方法，測定包含于在高溫部件的表面形成的涂布層中的亞穩四方相的含量，并根據所測定的所述亞穩四方相的含量，推斷所述高溫部件的表面溫度，其中，

所述溫度推斷方法具有如下步驟：

將通過X射線衍射法對以按照所確定的多個加熱溫度而確定的多個加熱時間進行了加熱處理的多個所述涂布層的試驗用部件進行測定的各衍射結果、以及對預先已知亞穩四方相、四方相、立方相的含量的部件的基于X射線衍射法的衍射結果，通過進行里特維德分析而算出包含于多個各試驗用部件中的亞穩四方相的含量，并存儲與各所述試驗用部件對應的加熱溫度、加熱時間及亞穩四方相的含量的數據，并根據存儲的數據，算出對所述試驗用部件的加熱時間、加熱溫度及亞穩四方相的含量的關系式的步驟；

算出通過拉曼光譜法對所述多個各試驗用部件進行測定的結果的頻譜的特征量與算出的包含于各試驗用部件中的亞穩四方相的含量之間的相關關系的步驟；

在規定溫度以上的加熱溫度下進行了加熱處理的所述涂布層的測定用部件，在所述加熱處理中的加熱時間已知的情況下，根據通過拉曼光譜法對所述測定用部件進行測定而獲得的頻譜的特征量和所述相關關系，算出包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量的步驟；及

根據所述測定用部件的加熱時間、算出的包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量及所述關系式，算出所述測定用部件的加熱溫度的步驟。

3.根據權利要求1或2所述的溫度推斷方法，其中，

所述關系式基于亞穩四方相的分解量與加熱時間的1/4次方為線性關系。

4.一種亞穩四方相的含量測定方法，其為對包含于在高溫部件的表面形成的涂布層中的亞穩四方相的含量進行測定的方法，其中，

所述亞穩四方相的含量測定方法具有如下步驟：

將通過X射線衍射法對以按照所確定的多個加熱溫度而確定的多個加熱時間進行了加熱處理的多個所述涂布層的試驗用部件進行測定的各衍射結果、以及對預先已知亞穩四方相、四方相、立方相的含量的部件的基于X射線衍射法的衍射結果，通過進行里特維德分析而算出包含于多個各試驗用部件中的亞穩四方相的含量的步驟；

算出通過拉曼光譜法對所述多個各試驗用部件進行測定的結果的頻譜的特征量與算出的包含于各試驗用部件中的亞穩四方相的含量之間的相關關系的步驟；及

在規定溫度以上的加熱溫度下進行加熱處理的所述涂布層的測定用部件，在所述加熱處理中的加熱時間已知的情況下，根據通過拉曼光譜法對所述測定用部件進行測定而獲得的頻譜的特征量和所述相關關系，算出包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量的步驟。

5.一種劣化判定方法，其中，

通過權利要求4所述的亞穩四方相的含量測定方法算出包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量，

并根據包含于所述測定用部件中的亞穩四方相的含量和所述高溫部件的劣化度的預先規定的對應關系，算出所述高溫部件的劣化度。