[實用新型]X熒光光譜分析儀

有效

• 申請號: 201521113363.2
• 申請日: 2015-12-29
• 公開（公告）號: CN205384236U
• 公開（公告）日: 2016-07-13
• 發明（設計）人: 高華;余正東
• 申請（專利權）人: 北京邦鑫偉業技術開發有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 魯兵

1.一種X熒光光譜分析儀，其包括X射線發生裝置、真空測量室、安裝于所述真空測量室內的多個固定元素道和與各所述固定元素道分別對應設置的探測器，通過對所述探測器施加電壓來進行化學元素的測試，該X熒光光譜分析儀的特征在于：

包括顯示和調節施加在所述探測器上的電壓的顯示調節面板。

2.如權利要求1所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于：

所述顯示調節面板包括：顯示所述探測器上的電壓的電壓值的顯示單元；檢測所述探測器上的電壓并將檢測到的所述電壓值傳送到所述顯示單元的電壓檢測單元；和通過改變所述探測器的電源的控制電壓來調節施加在所述探測器上的電壓的電壓調節單元。

3.如權利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于：

所述電壓檢測單元包括集成有與檢測元素對應的多通道的AD采樣單元的單片機。

4.如權利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于：

所述顯示調節面板還包括存儲有與要測試的化學元素對應的所述探測器的電壓的目標范圍值的存儲器，

該存儲器與所述顯示單元連接，使得所述顯示單元顯示所述目標范圍值。

5.如權利要求2所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于：

在所述顯示調節面板還包括用于對所述顯示單元進行顯示操作的操作部。

6.如權利要求1至5中任一項所述的X熒光光譜分析儀，其特征在于：

在所述顯示調節面板的表面設置有軟面板，

所述軟面板包括：與所述顯示單元對應設置的透明或中空的顯示窗口；與所述電壓調節單元對應且具有使電壓調節工具能夠插入到所述電壓調節單元的尺寸的多個電壓調節孔；和與所述電壓調節孔對應設置的用于指示要測試的化學元素的多個化學元素標識。