[實用新型]一種薄膜測厚儀

有效

• 申請號: 201521076218.1
• 申請日: 2015-12-18
• 公開（公告）號: CN205373683U
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 李讓峰
• 申請（專利權）人: 天津良益科技有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 天津市新天方有限責任專利代理事務所 12104
• 代理人: 李桂英

技術領域

本實用新型屬于測量裝置技術領域，尤其是涉及一種薄膜測厚儀。

背景技術

薄膜測厚儀，又稱為薄膜厚度檢測儀，主要適用于塑料薄膜、薄片。紙張、箔片等各種材料的厚度精確測量，廣泛的應用于對薄膜厚度有嚴格要求的薄膜生產企業、使用單位及質檢機構。薄膜的厚度是否均勻是檢測其各項性能的基礎。薄膜的厚度在很大的程度上決定了薄膜的力學性能和光學性能，因此需要精確的測量薄膜的厚度。測厚儀主要由發射單元和接收單元兩部分組成，薄膜從發射單元與接收單元之間通過，即可精確測量出薄膜的厚度；但是當薄膜測厚儀在運轉一定時間后，儀器中的驅動裝置會有一定的損耗，導致發射頭與接收器不處于同一中心線上，導致無法準確的測量，使得測量結果達不到要求，需要重新調整設備才能正常的進行測量工作，費時費力；并且在測量一些重量較輕的薄膜時，薄膜待測的表面不能平整的放置在工作臺上，使得測量產生偏差，導致測量精度降低。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種結構簡單、操作簡單、測量精度高、上下發射頭與接收器處于同一中心線上、生產效率高的薄膜測厚儀。

本實用新型的技術方案是：一種薄膜測厚儀，包括工作臺、轉動桿，所述轉動桿設置在工作臺的一端，所述工作臺的正上方設有發射裝置，所述發射裝置包括升降裝置、微調器、第一中心線監測器、發射探頭，所述升降裝置的上端連接微調器，所述升降裝置的兩側固定連接夾緊塊，所述升降裝置的下端連接第一中心線監測器及發射探頭，所述工作臺的內部設有驅動滑軌，所述驅動滑軌上設有相配合的滑塊，所述滑塊的上端設有接收器及第二中心線監測器，所述滑塊上設有定位調節器，所述定位調節器上設有卡槽及固定孔，所述驅動滑軌與工作臺的內壁接觸的一側設有勻速控制器，所述工作臺與轉動桿相對的一端設有固定裝置，所述固定裝置的底部一側設有角度調節塊，另一側設有固定壓塊，所述固定裝置的前端設有薄膜感應器，所述工作臺的外側設有報警裝置。

進一步，所述第一中心線檢測器、第二中心線檢測器與報警裝置通過電線相連。

進一步，所述固定壓塊的底部與工作臺貼緊。

進一步，所述微調器上設有微調螺栓與相配合的微調螺母。

本實用新型具有的優點和積極效果是：由于采用上述技術方案，在發射探頭與接收器上均設置的中心線監測器，當不處于相同中心線時會將信號發送到報警裝置中，提醒實驗人員調整發射探頭與接收器的中心線位置，同時在工作臺的一端設置的固定裝置可以固定住薄膜，平整的固定薄膜位置，便于精確的測量薄膜的厚度。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

圖中：

1、工作臺2、轉動桿3、發射裝置

4、升降裝置5、微調器6、第一中心線監測器

7、發射探頭8、夾緊塊9、驅動滑軌

10、滑塊11、接收器12、第二中心線監測器

13、定位調節器1301、卡槽1302、固定孔

14、勻速控制器15、固定裝置16、角度調節塊

17、固定壓塊18、薄膜感應器19、報警裝置

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型做詳細說明。

如圖1所示，本實用新型一種薄膜測厚儀，包括工作臺1、轉動桿2，所述轉動桿2設置在工作臺1的一端，所述工作臺1的正上方設有發射裝置3，所述發射裝置3包括升降裝置4、微調器5、第一中心線監測器6、發射探頭7，所述升降裝置4的上端連接微調器5，所述升降裝置4的兩側固定連接夾緊塊8，所述升降裝置4的下端連接第一中心線監測器6及發射探頭7，所述工作臺1的內部設有驅動滑軌9，所述驅動滑軌9上設有相配合的滑塊10，所述滑塊10的上端設有接收器11及第二中心線監測器12，所述滑塊10上設有定位調節器13，所述定位調節器13上設有卡槽1301及固定孔1302，所述驅動滑軌9與工作臺1的內壁接觸的一側設有勻速控制器14，所述工作臺1與轉動桿2相對的一端設有固定裝置15，所述固定裝置15的底部一側設有角度調節塊16，另一側設有固定壓塊17，所述固定裝置15的前端設有薄膜感應器16，所述工作臺1的外側設有報警裝置19。

所述第一中心線檢測器6、第二中心線檢測器12與報警裝置19通過電線相連。

所述固定壓塊17的底部與工作臺1貼緊。

所述微調器5上設有微調螺栓與相配合的微調螺母。