[實用新型]一種斷路器短路能力試驗回路

有效

• 申請號: 201521062767.3
• 申請日: 2015-12-17
• 公開（公告）號: CN205246826U
• 公開（公告）日: 2016-05-18
• 發明（設計）人: 袁淵;吳釗;李合
• 申請（專利權）人: 中國西電電氣股份有限公司;西安高壓電器研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 李宏德

技術領域

本實用新型涉及低壓斷路器短路電流檢測技術領域，具體為一種斷路器 短路能力試驗回路。

背景技術

交流斷路器是低壓電器領域中不可或缺的重要設備，其短路性能是主要 的一項指標。在低壓斷路器的實際應用中，短路情況普遍存在，如果斷路器 在一定的短路條件下不能滿足標稱的短路能力，則有可能危害到整個電路并 造成嚴重的后果。因此，對斷路器的短路性能進行試驗，以確保其工作的靈 敏性和可靠性，具有重要的實際意義。短路性能的考核依據標準有一項重要 的參數需重點關注，即短路過程試驗中的同步性，為了滿足此要求，需要用 到選相合閘裝置。

現階段常用的選相合閘裝置依據不同的電流參數采用不同的結構，通常 情況下采用開關本體并結合選相控制器來試驗，開關本體通常采用真空滅弧 室配永磁操作機構的直線傳動方式，目前根據技術的發展逐步采用晶閘管控 制技術。這些選相合閘裝置在應用中具有很大的優點，電流覆蓋范圍較寬， 但是低壓電器領域現階段檢測耗時較長且檢測量較大的家用交流斷路器，該 類型斷路器的短路電流一般不會超過15kA，且檢測所需的同步合閘相角類 型較多。如果用上述的選相合閘裝置具有以下幾個缺陷：(1)因合閘相角類 型較多，為了提高試驗效率，所以要求選相合閘裝置頻繁使用，對于開關本 體是一大考驗；(2)上述選相合閘裝置結構復雜，維修麻煩，且控制方式需 要配備專用控制箱；(3)過載能力不強，通常用承受大短路電流的開關本體 進行低電流試驗，頻繁的操作，降低開關本體使用壽命；(4)成本高昂，對 于此類低電流試驗，考慮實際試驗的效費比，造成浪費，提高了運行成本。

為了有針對性地解決上述問題，本專利結合試驗標準及常見的試驗參數 要求，結合現階段的控制技術設計了新型的選相合閘裝置，其電流參數可以 達到15kA，且成本低廉，維修簡單方便，完全滿足現在市場上常用的家用 低壓斷路器的短路試驗要求。

實用新型內容

針對現有技術中存在的問題，本實用新型提供一種斷路器短路能力試驗 回路，其成本低廉，維修簡單方便，能夠完全滿足試驗要求。

本實用新型是通過以下技術方案來實現：

一種斷路器短路能力試驗回路，包括依次串聯的交流電源，選相合閘裝 置，試驗工位和接地系統，以及與選相合閘裝置并聯的并聯斷路器；試驗工 位用于接入試品；所述的選相合閘裝置包括串聯在試驗回路中的選相開關本 體，以及依次連接的選相合閘控制器和上位機控制系統；選相開關本體由三 相組成，每一相由三個真空接觸器并聯組成，真空接觸器的合分控制端子連 接選相合閘控制器的輸出端；選相合閘控制器用于控制選相開關本體的合分 閘時刻；上位機控制系統用于設置試驗參數。

優選的，交流電源和選相合閘裝置之間還串聯設置有前級阻抗和保護斷 路器；前級阻抗用于為試驗回路提供調節試驗電流至額定短路能力的阻抗。

優選的，試驗工位和接地系統之間還串聯設置有后級阻抗；后級阻抗用 于為試驗回路提供調節試驗電流至低于額定短路能力的阻抗。

優選的，選相合閘控制器的輸入端通過光耦接入試驗回路的電壓檢測輸 入信號。

優選的，選相合閘控制器采用單片機或微處理器。

優選的，選相合閘控制器采用基于增強的AVRRISC結構的低功耗8位 CMOS微控制器。

與現有技術相比，本實用新型具有以下有益的技術效果：

本實用新型能夠準確可靠的完成低壓斷路器短路性能檢驗，滿足試驗要 求，降低試驗成本，通過在低壓斷路器短路性能試驗中選相合閘裝置以真空 接觸器為選相開關本體結合單片機完成選相合閘控制器的設計，配合外部增 加相應容量的試驗變壓器進行該試驗，使其試驗回路具有以下幾個優點： (1)根據試驗參數要求，采用三個真空接觸器并聯組成一相，九個真空接 觸器組成三相，真空接觸器結構簡單，電壽命次數高，過載能力強，可靠性 高，機械壽命和電壽命次數多；(2)采用單片機或微處理器進行選相控制器 的設計，單片機應用時間長，編程簡單，原理簡單，擴展能力強，可靠性 高，通過與上位機控制系統的結合，操作方便易用；(3)成本低，整體裝置 體積小，參數調節簡單，滿足頻繁試驗的要求，提高了試驗效率，具有很強 的實用性。特別適用于交流的斷路器短路能力檢測，尤其是家用及類似用途 的低壓斷路器短路特性檢測。

附圖說明