[實用新型]可定位的外徑千分尺

有效

• 申請號: 201521056535.7
• 申請日: 2015-12-17
• 公開（公告）號: CN205228313U
• 公開（公告）日: 2016-05-11
• 發明（設計）人: 趙永海
• 申請（專利權）人: 蘇州國量量具科技有限公司
• 主分類號: G01B3/18
• 分類號: G01B3/18;G01B5/08
• 代理公司: 北京一格知識產權代理事務所(普通合伙) 11316
• 代理人: 滑春生;趙永偉

技術領域

本實用新型涉及一種可定位的外徑千分尺，主要用于工件的測量。

背景技術

千分尺具有尺架，尺架在一端具有測砧并且在另一端具有測微螺桿，隨著使用者握住尺架并且旋轉安裝于測微螺桿的套管，測微螺桿靠近測砧或遠離測砧地移動。

在進行測量的時候，測量螺桿和待測工件進行頻繁接觸，發生磨損，從而導致了測微螺桿的磨損，縮短了使用壽命；同時由于不能很好的實現固定，導致了測量出現了較大的誤差。

發明內容

為克服現有技術的缺陷，本實用新型提供一種可定位的外徑千分尺，本實用新型的技術方案是：一種可定位的外徑千分尺，包括千分尺主體，所述的千分尺主體的尺架上傾斜的安裝有調整螺釘，該調整螺釘與千分尺主體的測砧和測微螺桿形成測量夾持空間。

所述的千分尺主體上的測微螺桿包括螺桿主體和設置在螺桿主體外圍的絲套，所述的螺桿主體和測砧均采用納米晶體材料制作而成；所述的調整螺釘的外圍涂覆有納米晶體層。

所述的絲套與螺桿主體一體成型，均是采用納米晶體制作而成。

所述的絲套為金屬絲套。

所述的千分尺主體包括尺架以及安裝在尺架上的測砧和測微螺桿，該尺架的一端設置有測砧，另一端設置有測微螺桿，該測微螺桿與所述的測砧相對設置，并通過測量機構轉動的安裝在尺架上；所述的尺架上還安裝有隔熱塊以及用于顯示測量機構數據的顯示屏。

所述的測量機構包括旋鈕、微分筒和固定套管，所述測微螺桿的一端安裝有旋鈕，另一端依次穿過微分筒、固定套管和尺架上的螺紋孔后與所述的測砧相對應；該固定套管固定安裝尺架上，微分筒轉動的安裝在固定套管上；所述的測微螺桿與尺架上的螺紋孔以及微分筒螺紋配合，與固定套管不接觸。

所述的尺架上安裝有調整螺桿，該調整螺桿沿測微螺桿的徑向設置。

所述的測微螺桿上安裝有測力裝置。

本實用新型的優點是：夾持牢固，延長了使用壽命，降低了企業的生產成本。

附圖說明

圖1是本實用新型的主體結構示意圖。

具體實施方式

下面結合具體實施例來進一步描述本實用新型，本實用新型的優點和特點將會隨著描述而更為清楚。但這些實施例僅是范例性的，并不對本實用新型的范圍構成任何限制。本領域技術人員應該理解的是，在不偏離本實用新型的精神和范圍下可以對本實用新型技術方案的細節和形式進行修改或替換，但這些修改和替換均落入本實用新型的保護范圍內。

參見圖1，本實用新型涉及一可定位的外徑千分尺，包括千分尺主體，所述的千分尺主體的尺架1上傾斜的安裝有調整螺釘3，該調整螺釘與千分尺主體的測砧2和測微螺桿4形成測量夾持空間。

所述的千分尺主體上的測微螺桿4包括螺桿主體和設置在螺桿主體外圍的絲套，所述的螺桿主體和測砧2均采用納米晶體材料制作而成；所述的調整螺釘的外圍涂覆有納米晶體層；納米晶體材料以及納米晶體層可以是金屬氧化物納米晶體也可以是金屬納米晶體。

其中，一種實施例是：所述的絲套與螺桿主體一體成型，均是采用納米晶體制作而成。

當然還可以是：所述的絲套為金屬絲套。

所述的千分尺主體包括尺架1以及安裝在尺架1上的測砧2和測微螺桿4，該尺架1的一端設置有測砧2，另一端設置有測微螺桿4，該測微螺桿4與所述的測砧2相對設置，并通過測量機構轉動的安裝在尺架1上；所述的尺架1上還安裝有隔熱塊以及用于顯示測量機構數據的顯示屏6。

所述的測量機構包括旋鈕10、微分筒（帶有刻度）8和固定套管（帶有刻度）7，所述測微螺桿4的一端安裝有旋鈕10，另一端依次穿過微分筒8、固定套管7和尺架1上的螺紋孔后與所述的測砧2相對應；該固定套管7固定安裝尺架1上，微分筒8轉動的安裝在固定套管7上；所述的測微螺桿4與尺架1上的螺紋孔以及微分筒8螺紋配合，與固定套管不接觸。

所述的尺架1上安裝有調整螺桿5，該調整螺桿5沿測微螺桿4的徑向設置。

所述的測微螺桿4上安裝有測力裝置9。