[實(shí)用新型]微型針距PCB高精度測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201521051837.5 | 申請日: | 2015-12-16 |
| 公開(公告)號: | CN205384296U | 公開(公告)日: | 2016-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 蘇秋鈿 | 申請(專利權(quán))人: | 珠海市運(yùn)泰利自動化設(shè)備有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司: | 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214 | 代理人: | 王賢義 |
| 地址: | 519000 廣東省珠海市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微型 pcb 高精度 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種微型針距PCB高精度測試裝置。
背景技術(shù)
隨著印刷電路板的制造不斷向著微型化方向發(fā)展,在其生產(chǎn)過程中,原有的人工檢測形式逐漸被現(xiàn)代化的自動光學(xué)檢測設(shè)備所代替。與此同時,在機(jī)器視覺代替人類視覺實(shí)現(xiàn)檢測后,如何能快速識別并定位Mark點(diǎn)就成為整個檢測過程中的一個重要問題,因此亟需一種高效率的、高精度的測試裝置。
而目前的PCB板產(chǎn)品的測試裝置結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積龐大,導(dǎo)致使用不方便以及占用空間大;而且由于目前PCB板產(chǎn)品的測試裝置內(nèi)的測試針板的針點(diǎn)間距較大,所以不能夠測試現(xiàn)在越來越成為趨勢的微距針點(diǎn)產(chǎn)品。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種設(shè)計合理、結(jié)構(gòu)簡單、體積小、使用方便以及測試精度高的微型針距PCB高精度測試裝置。
本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是:本實(shí)用新型包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體、中空緩沖板以及產(chǎn)品放置體,所述產(chǎn)品放置體上設(shè)置有測試針板模組,所述測試針板模組與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。
所述產(chǎn)品放置體上設(shè)置有產(chǎn)品放置槽,所述產(chǎn)品放置槽的底部設(shè)置有載板,所述測試針板模組適配設(shè)置在所述載板的上表面上。
所述測試針板模組包括高精密硅膠針板以及測試PCB板,所述測試PCB板適配設(shè)置在所述載板的上表面,所述高精密硅膠針板適配放置在所述測試PCB板上。
所述產(chǎn)品放置體內(nèi)還設(shè)置有轉(zhuǎn)動式彈性銷,所述轉(zhuǎn)動式彈性銷的轉(zhuǎn)軸設(shè)置在所述產(chǎn)品放置槽的邊緣上,所述轉(zhuǎn)動式彈性銷的銷體置于所述載板的上方。
所述上蓋體的下表面設(shè)置有與所述產(chǎn)品放置槽的大小相適配的產(chǎn)品壓板,所述產(chǎn)品壓板的背部通過若干個第一彈簧與所述上蓋體的下表面相連接。
所述產(chǎn)品放置體的側(cè)邊邊緣上設(shè)置有卡扣,所述上蓋體的側(cè)邊上設(shè)置有與所述卡扣相適配的卡扣孔。
所述中空緩沖板通過等高活動螺絲設(shè)置在所述產(chǎn)品放置體上,所述中空緩沖板與所述產(chǎn)品放置體之間還設(shè)置有若干個第二彈簧。
本實(shí)用新型的有益效果是:在本實(shí)用新型中,由于采用了高效性的硅膠導(dǎo)體制成的高精密硅膠針板,其最小的導(dǎo)體直徑能達(dá)到0.2毫米,所以能夠?qū)ξ⑿歪樉喈a(chǎn)品的針點(diǎn)進(jìn)行高精度的連接測試;
又由于在產(chǎn)品壓板的背部、中空緩沖板與產(chǎn)品放置體之間都設(shè)置有緩沖彈簧,所以在測試產(chǎn)品時能夠最大限度保護(hù)產(chǎn)品不會受壓果度而損壞。
附圖說明
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,本實(shí)用新型包括自上至下依次適配設(shè)置的上蓋體1、中空緩沖板2以及產(chǎn)品放置體3,所述產(chǎn)品放置體3上設(shè)置有測試針板模組31,所述測試針板模組31與外部數(shù)據(jù)處理器相連接。
所述產(chǎn)品放置體3上設(shè)置有產(chǎn)品放置槽,所述產(chǎn)品放置槽的底部設(shè)置有載板,所述測試針板模組適配設(shè)置在所述載板的上表面上。
所述測試針板模組31包括高精密硅膠針板以及測試PCB板,所述測試PCB板適配設(shè)置在所述載板的上表面,所述高精密硅膠針板適配放置在所述測試PCB板上。
所述產(chǎn)品放置體3內(nèi)還對應(yīng)設(shè)置有兩個轉(zhuǎn)動式彈性銷32,所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的轉(zhuǎn)軸設(shè)置在所述產(chǎn)品放置槽的邊緣上,所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體置于所述載板的上方。所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動。
所述上蓋體1的下表面設(shè)置有與所述產(chǎn)品放置槽的大小相適配的產(chǎn)品壓板11,所述產(chǎn)品壓板11的背部通過九個第一彈簧與所述上蓋體1的下表面相連接。
所述產(chǎn)品放置體3的側(cè)邊邊緣上設(shè)置有兩個卡扣33,所述上蓋體1的側(cè)邊上設(shè)置有兩個與所述卡扣33相適配的卡扣孔12。
所述中空緩沖板2通過四個邊個上的四個等高活動螺絲設(shè)置在所述產(chǎn)品放置體3上,所述中空緩沖板2與所述產(chǎn)品放置體3之間還設(shè)置有四個第二彈簧。
工作原理:
將待測的產(chǎn)品放置在所述產(chǎn)品放置槽內(nèi),將所述轉(zhuǎn)動式彈性銷32的銷體繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)至所述產(chǎn)品上方并對所述產(chǎn)品進(jìn)行預(yù)壓定位,此時將所述上蓋體1蓋上,將所述卡扣33適配卡在所述卡扣孔12內(nèi),使得所述產(chǎn)品壓板11對所述產(chǎn)品進(jìn)行壓制,進(jìn)而使得所述產(chǎn)品的針點(diǎn)能夠通過所述高精密硅膠針板而與所述測試PCB板上的針點(diǎn)相連接,所述測試PCB板將所述產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)輸送至所述外部處理器。
本實(shí)用新型適用于微型針距PCB板測試領(lǐng)域。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





