[實(shí)用新型]一種微電阻測(cè)量設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520950421.0 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN205301431U | 公開(公告)日: | 2016-06-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙千里;王少波 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 億和精密工業(yè)(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R27/02 | 分類號(hào): | G01R27/02 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32232 | 代理人: | 孟宏偉 |
| 地址: | 215011 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電阻 測(cè)量 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種電阻測(cè)量設(shè)備,具體涉及一種用于對(duì)微小電 阻進(jìn)行測(cè)量的微電阻測(cè)量設(shè)備。
背景技術(shù)
在電子產(chǎn)品領(lǐng)域,為了保證出廠產(chǎn)品的良率,在產(chǎn)品生產(chǎn)完成后, 還需要對(duì)產(chǎn)品的電阻值進(jìn)行測(cè)量。純金屬電阻值精密測(cè)量一般采用傳 統(tǒng)的四聯(lián)回路設(shè)備進(jìn)行測(cè)量,但是在測(cè)量的過程中,傳統(tǒng)的測(cè)量設(shè)備 對(duì)測(cè)量點(diǎn)的位置選取不精確,探針的壓力難以控制,其可能會(huì)對(duì)測(cè)量 的電阻值產(chǎn)生影響。由于測(cè)量產(chǎn)品的電阻值十分微小,只有幾毫歐或 零點(diǎn)幾毫歐,為了提高其測(cè)量精確度,故一種微電阻測(cè)量設(shè)備亟待提 出。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提出了一種微電阻測(cè)量設(shè) 備,該設(shè)可以快速有效對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行電阻值的測(cè)量,分辨出合格與不合 格的產(chǎn)品,減少工人的操作復(fù)雜度,提高其檢測(cè)效率。
為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
一種電阻測(cè)量設(shè)備,電阻測(cè)量設(shè)備包括:滑動(dòng)平臺(tái)、控制裝置以 及設(shè)置于滑動(dòng)平臺(tái)上可沿XYZ軸三個(gè)方向運(yùn)動(dòng)的微電阻測(cè)試計(jì),微 電阻測(cè)試計(jì)上設(shè)有一組或多組探針。
本實(shí)用新型一種微電阻測(cè)量設(shè)備采用滑動(dòng)平臺(tái)上的微電阻測(cè)試 計(jì)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。控制裝置控制微電阻測(cè)試計(jì)沿XY軸運(yùn)動(dòng),可以 準(zhǔn)確有效地選取產(chǎn)品上的測(cè)量點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,同時(shí)降低了工作人員的操 作復(fù)雜度。而控制裝置控制微電阻測(cè)試計(jì)沿Z軸運(yùn)動(dòng),可以有效控制 微電阻測(cè)試計(jì)上的探針與產(chǎn)品測(cè)量點(diǎn)的壓力,防止兩者接觸不良或探 針對(duì)產(chǎn)品壓力過大造成損傷,保證探針對(duì)產(chǎn)品的測(cè)量更精確。
在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,還可做如下改進(jìn):
作為優(yōu)選的方案,在滑動(dòng)平臺(tái)上設(shè)置有:Y軸水平組件,包括Y 軸滑塊、Y軸滑軌以及Y軸驅(qū)動(dòng)裝置,Y軸驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)Y軸滑塊 沿Y軸滑軌運(yùn)動(dòng);X軸水平組件,設(shè)置于Y軸滑塊上,包括X軸滑 塊、X軸滑軌以及X軸驅(qū)動(dòng)裝置,X軸驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)X軸滑塊沿X 軸滑軌運(yùn)動(dòng);Z軸垂直組件,設(shè)置于X軸滑塊上,包括Z軸滑塊、Z 軸滑軌以及Z軸驅(qū)動(dòng)裝置,微電阻測(cè)試計(jì)設(shè)置于Z軸滑塊上,Z軸驅(qū) 動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)Z軸滑塊沿Z軸滑軌運(yùn)動(dòng)。
采用上述優(yōu)選的方案,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低。
作為優(yōu)選的方案,電阻測(cè)量設(shè)備還包括:設(shè)置于滑動(dòng)平臺(tái)上的用 于承載或運(yùn)輸產(chǎn)品的載具。
采用上述優(yōu)選的方案,便于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行承載或運(yùn)輸。
作為優(yōu)選的方案,電阻測(cè)量設(shè)備還包括溫度傳感器,溫度傳感器 與控制裝置電連接。
采用上述優(yōu)選的方案,溫度傳感器對(duì)微電阻測(cè)試計(jì)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè) 量時(shí)的環(huán)境溫度進(jìn)行測(cè)量,對(duì)微電阻測(cè)試計(jì)測(cè)量的產(chǎn)品的電阻值進(jìn)行 溫度補(bǔ)償,消除環(huán)境溫度對(duì)產(chǎn)品電阻的影響,使其檢測(cè)更精確。
作為優(yōu)選的方案,電阻測(cè)量設(shè)備還包括調(diào)零母板。
采用上述優(yōu)選的方案,調(diào)零母板的表面鍍有貴金屬,如:金、銀。 傳統(tǒng)的四聯(lián)回路設(shè)備,需要工作人員將每組探針進(jìn)行接觸短接來實(shí) 現(xiàn),操作復(fù)雜,一個(gè)工作人員難以實(shí)現(xiàn)。而本申請(qǐng)采用阻值無限小的 調(diào)零母板對(duì)微電阻測(cè)試計(jì)進(jìn)行調(diào)零,操作更便捷。
作為優(yōu)選的方案,調(diào)零母板水平設(shè)置于Z軸滑軌內(nèi)部空腔中, 且調(diào)零母板與母板驅(qū)動(dòng)裝置連接,母板驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)調(diào)零母板運(yùn)動(dòng)。
采用上述優(yōu)選的方案,降低工作人員的操作復(fù)雜度。
作為優(yōu)選的方案,調(diào)零母板包括正面和背面,正面為金屬檢測(cè)面, 背面上設(shè)有卡槽,卡槽內(nèi)鉸接有用于支撐調(diào)零模板的支撐腳。
采用上述優(yōu)選的方案,支撐腳對(duì)調(diào)零模板進(jìn)行良好的支撐,保證 其調(diào)零更有效。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的微電阻測(cè)量設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的Z軸垂直組件、微電阻測(cè)試計(jì)以 及調(diào)零母板的主視圖。
圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的產(chǎn)品俯視圖。
圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的微電阻測(cè)量設(shè)備的側(cè)視圖之一。
圖6為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的微電阻測(cè)量設(shè)備的側(cè)視圖之二。
圖7為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的微電阻測(cè)量設(shè)備的側(cè)視圖之三。
圖8為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的調(diào)零母板背面的結(jié)構(gòu)示意圖。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R27-00 測(cè)量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測(cè)量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測(cè)量;瞬態(tài)響應(yīng)的測(cè)量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測(cè)量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測(cè)量
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
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