[實用新型]一種嵌入式測試系統

有效

• 申請號: 201520947807.6
• 申請日: 2015-11-25
• 公開（公告）號: CN205120878U
• 公開（公告）日: 2016-03-30
• 發明（設計）人: 宋桂鑫;聶章龍
• 申請（專利權）人: 常州信息職業技術學院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 常州市科誼專利代理事務所 32225
• 代理人: 袁興隆

技術領域

本實用新型涉及測試系統技術領域，具體地講，本實用新型涉及一種嵌入式測試系統。

背景技術

電子裝置于組裝或制作完成后，一般均需要對其中一些功能進行測試，以檢測電子裝置(此時可稱為待測裝置)是否達到規定標準，從而保證電子裝置可正常使用。現有的測試系統往往針對單一的待測裝置進行檢測，其檢測效率低，耗費時間長，影響測試效率，針對上述問題，本領域技術人員亟需提供一種測量更加便捷的嵌入式測試系統，可對多個待測裝置進行同時檢測，提高測試效率。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是：提供一種測量更加便捷的嵌入式測試系統，可對多個待測裝置進行同時檢測，提高測試效率。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：提供一種嵌入式測試系統，包括嵌入式中央處理器，所述嵌入式中央處理器的一端連接多個用于檢測待測器件性能的測量儀器以及切換裝置，所述嵌入式中央處理器通過所述切換裝置控制任一測量儀器的運行狀態，所述嵌入式中央處理器的另一端連接顯示單元、非易失性存儲單元以及無線傳輸單元，所述嵌入式中央處理器將處理后的測量數據通過所述無線傳輸單元發送至遠程控制終端。

優選的，所述測量儀器包括集成電路測試儀和電壓測量器，所述集成電路測試儀為待測器件提供測試條件，包括施加預設電壓以及電流，并測量待測器件的電流以及頻率，所述電壓測量器用于測量待測器件的電壓參數。

優選的，所述測量儀器還包括對待測器件進行檢測的計數器測量儀以及波形發生器測量儀。

優選的，所述切換裝置包括多個繼電器。

優選的，所述繼電器為真空繼電器或高壓繼電器。

本實用新型提供了一種嵌入式測試系統，嵌入式中央處理器通過切換裝置控制任一測量儀器的運行狀態，既可對待測器件進行單一檢測，也可同時對多個待測器件進行檢測，大大提高了檢測效率，此外，檢測數據還可通過無線傳輸單元發送至遠程控制終端，可實時向遠程控制終端匯報檢測數據，方便快捷，本實用新型可使待測器件的測試更穩定更省時，可有效提高嵌入式測試系統的測試效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本實用新型的嵌入式測試系統優選實施例的結構示意圖。

[圖中附圖標記]：

10.嵌入式中央處理器，20.待測器件，30.測量儀器，40.切換裝置，50.顯示單元，60.非易失性存儲單元，70.無線傳輸單元，80.遠程控制終端。

具體實施方式

為使本實用新型的內容更加清楚易懂，以下結合說明書附圖，對本實用新型的內容作進一步說明。當然本實用新型并不局限于該具體實施例，本領域內的技術人員所熟知的一般替換也涵蓋在本實用新型的保護范圍內。其次，本實用新型利用示意圖進行了詳細的表述，在詳述本實用新型實例時，為了便于說明，示意圖不依照一般比例局部放大，不應以此作為對本實用新型的限定。

上述及其它技術特征和有益效果，將結合實施例及附圖1對本實用新型的嵌入式測試系統進行詳細說明。如圖1所示，圖1是本實用新型的嵌入式測試系統優選實施例的結構示意圖。

如圖1所示，本實用新型提供一種嵌入式測試系統，包括嵌入式中央處理器10，嵌入式中央處理器10的一端連接多個用于檢測待測器件20性能的測量儀器30以及切換裝置40，嵌入式中央處理器10通過切換裝置40控制任一測量儀器30的運行狀態，嵌入式中央處理器10的另一端連接顯示單元50、非易失性存儲單元60以及無線傳輸單元70，嵌入式中央處理器10將處理后的測量數據通過無線傳輸單元70發送至遠程控制終端80。

具體的，本實施例中，測量儀器30包括集成電路測試儀和電壓測量器，集成電路測試儀為待測器件20提供測試條件，包括施加預設電壓以及電流，并測量待測器件的電流以及頻率，電壓測量器用于測量待測器件20的電壓參數。此外，測量儀器30還可包括對待測器件20進行檢測的計數器測量儀以及波形發生器測量儀。

本實施例中的切換裝置40包括多個繼電器，繼電器優選為真空繼電器或高壓繼電器。