[實用新型]一種光纖微彎測試專用光纖盤

有效

• 申請號: 201520925847.0
• 申請日: 2015-11-18
• 公開（公告）號: CN205121035U
• 公開（公告）日: 2016-03-30
• 發明（設計）人: 沈小平;田佳;蔣錫華;唐成;朱坤;魏文濤;鄧奮
• 申請（專利權）人: 通鼎互聯信息股份有限公司
• 主分類號: G02B6/44
• 分類號: G02B6/44
• 代理公司: 天津濱海科緯知識產權代理有限公司 12211
• 代理人: 楊慧玲

技術領域

本實用新型屬于光纖生產技術領域，尤其是涉及一種光纖微彎測試專用光纖盤。

背景技術

隨著光纖通信網絡迅速發展，國內三大運營商的4G競爭已經進入白熱化狀態，對供應商產品的技術參數要求也越來越高，其中對光纖衰減系數也提出了更高的要求。為了適應不斷發展光纖通信網絡，光纖廠在衰減方面也在不斷地技術創新，研制出了低損耗光纖，甚至超低損耗光纖；原本不受人們重視的微彎，也慢慢地進入研究議題。所謂微彎損耗是由于光纖軸線微小的畸變造成的損耗，這些軸線上微小的畸變是由于光纖受到不均勻的應力作用。本色光纖產生微彎由涂料配方、拉絲固化不良、拉絲PMD搓動、主牽引皮帶等工藝特性決定的，而成纜后的光纖產生微彎則由組裝光纜過程、鋪設光纜安裝過程及環境溫度造成；而外部因素的隨機性和不可避免性，進一步影響了光纜衰減測試的穩定性，因此，單純提供光纖各波長的衰減值已經不能滿足客戶的需求。因此需要在光纖未成纜時，模擬外部因素對光纖產生不均勻的應力，測量光纖從自然狀態到模擬狀態所引起的附加衰減即微彎。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型旨在提出一種光纖微彎測試專用光纖盤，在光纖未成纜時，能夠通過本光纖盤復繞光纖來模擬外部因素對光纖產生不均勻的應力，測量光纖從自然狀態到模擬狀態所引起的附加衰減即微彎。

為達到上述目的，本實用新型的技術方案是這樣實現的：

一種光纖微彎測試專用光纖盤，包括光纖盤本體以及光纖盤本體上設置的一層砂紙；所述砂紙平整的包裹在所述光纖盤本體上復繞光纖處的表面。

進一步，所述砂紙粘貼在所述光纖盤本體上。

進一步，所述光纖盤本體的半徑≥140mm。

進一步，所述砂紙細度規格為P320。

進一步，所述光纖盤本體上還設有卡線槽以及與卡線槽匹配的彈性壓塊；所述彈性壓塊塞入卡線槽內。

進一步，所述光纖盤本體采用石英一體成型。

相對于現有技術，本實用新型具有以下優勢：

可在光纖微彎測試時將光纖復繞在本光纖盤砂紙的粗糙面上，并使光纖處于一定的張力下，來模擬外部因素對光纖造成的微彎，砂紙可以進行更換，光纖盤能夠重復利用，節約材料，使用方便可靠，效果好，同時成本低廉。

附圖說明

構成本實用新型的一部分的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中：

圖1為本實用新型的結構示意圖；

圖2為圖1中A處結構的放大圖；

圖3為本實用新型實施例中光纖微彎衰減示意圖。

附圖標記說明：

1-光纖盤本體，2-砂紙，3-卡線槽，4-彈性壓塊。

具體實施方式

需要說明的是，在不沖突的情況下，本實用新型中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。

下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本實用新型。

一種光纖微彎測試專用光纖盤，如圖1所示，包括光纖盤本體1以及光纖盤本體1上設置的一層砂紙2；所述砂紙2平整的包裹在所述光纖盤本體1上復繞光纖處的表面，需要注意的是，為保證光纖微彎測試結果準確，砂紙2只在光纖盤本體1圓周外表面設置一層，砂紙2接縫處應平整、對齊。復繞的光纖以一定張力作用在砂紙2上，由于力是相互的，光纖也受到了砂紙2上不均勻的應力作用，模擬了光纖成纜或施工時外部因素造成的微彎。

在多次使用之后，砂紙2上砂粒逐漸被摩擦掉，因此，所述光纖盤本體1上的砂紙2采用膠水粘貼的方式固定，當砂紙2變舊，可以進行更換，使得光纖盤本體1能重復利用，節約材料。

其中，所述光纖盤本體1的半徑≥140mm，光纖復繞在光纖盤本體1時，不會損壞光纖，避免了光纖產生宏彎衰減，保證測試結果的準確性。

為保證更貼近真實的模擬外部因素對光纖造成的微彎，所述砂紙2優選規格為P320的砂紙，粗糙程度與實際的工況接近。

如圖2所示，所述光纖盤本體1上還設有卡線槽3以及與卡線槽3匹配的彈性壓塊4；所述彈性壓塊4塞入卡線槽3內，可以用彈性壓塊4將復繞在本專用光纖盤本上的待測光纖端頭壓在卡線槽內，避免松散脫落。需要指出的是，彈性壓塊4可以是海綿塊、橡膠塊或是軟布塊，能夠將光纖端頭壓在卡線槽3內固定即可。

因此，當進行微彎測試時，可以由一組人員將待測光纖復繞在本專用光纖盤上，將固定有待測光纖的光纖盤運送到另一組人員進行實驗的區域，工作效率更高，轉運過程，待測光纖不會從光纖盤脫落。