[實用新型]一種光陰極量子效率分布測量裝置

有效

• 申請號: 201520887918.2
• 申請日: 2015-11-10
• 公開（公告）號: CN205091433U
• 公開（公告）日: 2016-03-16
• 發明（設計）人: 王建新;楊仁俊;肖德鑫;吳岱;李凱;潘清;劉宇;王汗斌;楊興繁;黎明
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院應用電子學研究所
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種光陰極量子效率分布測量裝置，其特征在于：所述的測量裝置包括激光器（1）、透鏡（2）、步進電機（3）、步進電機控制器（4）、收集極（5）、光陰極（6）、直流高壓電源（7）、微安表（8）；所述的步進電機（3）上固定有透鏡（2），在激光器（1）產生的入射激光的光路上依次設置有透鏡（2）、收集極（5）、光陰極（6）；所述的微安表（8）串聯在收集極（5）與直流高壓電源（7）的陽極之間，微安表（8）用于測量光陰極（6）發射光電子形成的電流，直流高壓電源（7）的陰極接地；步進電機（3）通過串口連接線與步進電機控制器（4）相連；所述激光器（1）產生的入射激光穿過透鏡（2）、再通過收集極（5）上設置的通孔，照射到光陰極（6）的表面上。

2.根據權利要求1所述的光陰極量子效率分布測量裝置，其特征在于：所述的透鏡（2）、收集極（5）、光陰極（6）平行放置。

3.根據權利要求1所述的光陰極量子效率分布測量裝置，其特征在于：所述的直流高壓電源（7）在收集極（5）與光陰極（6）之間加電壓，用于收集光陰極（6）表面發射的光電子。

4.根據權利要求1所述的光陰極量子效率分布測量裝置，其特征在于：所述的步進電機控制器（4）用于控制步進電機（3）的運動，使激光在光陰極（6）表面作二維掃描。