[實用新型]一種高密度積層板用AOI自動光學檢查機缺陷測試板

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201520886837.0
• 申請日: 2015-11-06
• 公開（公告）號: CN205229058U
• 公開（公告）日: 2016-05-11
• 發(fā)明（設計）人: 王濤
• 申請（專利權）人: 天津普林電路股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/93
• 代理公司: 天津盛理知識產權代理有限公司 12209
• 代理人: 趙熠

技術領域

本實用新型屬于高密度積層板AOI自動光學檢查機缺陷識別能力測試技術領域，尤其是 一種高密度積層板用AOI自動光學檢查機缺陷測試板。

背景技術

在高密度積層板生產過程中需要使用AOI自動光學檢查機進行電路板進行檢查，其以光 學部件采集電路板線路層的圖像，然后將該圖像進行識別，并與設備中預先存儲的標準線路 層進行邏輯比較，包括特征點檢查、設計規(guī)則檢查和形態(tài)檢查等項，由此判斷檢查的電路板 是否存在缺陷，其具有檢查速度快、準確等優(yōu)點。檢查的缺陷包括：1/2缺口、2/3缺口、1/3 缺口、1/4缺口、1/2突銅、1/3突銅、2/3突銅、斷路、短路、殘銅、50％線細、50％線寬、 錯位、丟盤和針孔。但隨著AOI自動光學檢查機的長期使用，其光學部件和其它部件均會出 現老化，其檢查缺陷的能力會下降，現有技術中沒有發(fā)現使用缺陷測試板來進行AOI自動光 學檢查機檢查能力的測試。

實用新型內容

本實用新型的目的在于克服現有技術的不足，提供結構簡單、預設各種缺陷的一種高密 度積層板用AOI自動光學檢查機缺陷測試板。

本實用新型采取的技術方案是：

一種高密度積層板用AOI自動光學檢查機缺陷測試板，包括基板，其特征在于：所述基 板左側由上至下制出密線路層，該密線路層上由上至下依次制出1/3缺口、1/4缺口、1/2缺 口、1/4缺口、2/3缺口和斷路共六個缺陷；

在密線路層右側的基板上制出由上至下的疏線路層，該疏線路層上由上至下依次制出短 路、1/3突銅和1/2突銅共三個缺陷，該疏線路層上方的基板上制出焊盤，該焊盤與疏線路 層的相鄰處制出一短路缺陷，該短路缺陷右側的焊盤處制出丟盤缺陷；

所述疏線路層右側的基板上制出短線路層，該短線路層上由上至下依次制出兩個針孔缺 陷；

所述短線路層右側的基板上制出長線路層，該長線路層上由上至下制出1/2缺口和殘銅 共兩個缺陷；

所述短線路層右側的基板右上至下依次制出上焊盤、超短線路層和下焊盤，上焊盤制出 殘銅缺陷，超短線路層上由左至右依次制出50％線細和50％線寬共兩個缺陷，下焊盤制出錯位 缺陷；

所述超短線路層右側基板上制出稀疏線路層，該稀疏線路層上由上至下依次制出2/3突 銅和斷路共兩個缺陷。

而且，靠近基板四個邊緣的表面上制出覆銅邊框。

本實用新型的優(yōu)點和積極效果是：

本實用新型中，基板表面由左至右依次制出密線路層、疏線路層、短線路層、長線路層、 超短線路層和稀疏線路層，每個線路層及其周邊制出的焊盤上制出1/2缺口、2/3缺口、1/3 缺口、1/4缺口、1/2突銅、1/3突銅、2/3突銅、斷路、短路、殘銅、50％線細、50％線寬、 錯位、丟盤和針孔這些缺陷，使用時，AOI自動光學檢查機拍攝基板的圖樣，并與設備中通 過CAM資料轉換的標準圖樣進行比較，通過比較結果來判斷設備能否將全部缺陷識別出來， 還可以每次拍攝時只挑選一處或幾處缺陷并遮擋其它缺陷，以此來提高檢查效率，總之，不 管何種方式均可以準確的測試設備的識別能力。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖；

圖2是短路的放大圖；

圖3是短路的放大圖；

圖4是丟盤的放大圖；

圖5是1/2缺口的放大圖；

圖6是殘銅的放大圖；

圖7是殘銅的放大圖；

圖8是50％線細的放大圖；

圖9是50％線寬的放大圖；

圖10是2/3突銅的放大圖；

圖11是斷路的放大圖；

圖12是斷路的放大圖；

圖13是錯位的放大圖；

圖14是針孔的放大圖；

圖15是1/2突銅的放大圖；

圖16是1/3突銅的放大圖；

圖17是2/3缺口的放大圖；

圖18是1/4缺口的放大圖；

圖19是1/3缺口的放大圖。

具體實施方式

下面結合實施例，對本實用新型進一步說明，下述實施例是說明性的，不是限定性的， 不能以下述實施例來限定本實用新型的保護范圍。