[實用新型]一種用于腦電圖儀的接觸阻抗檢測電路及腦電圖儀

有效

• 申請號: 201520867345.7
• 申請日: 2015-11-03
• 公開（公告）號: CN205083476U
• 公開（公告）日: 2016-03-16
• 發明（設計）人: 李海峰;莊志
• 申請（專利權）人: 北京怡和嘉業醫療科技有限公司
• 主分類號: A61B5/0476
• 分類號: A61B5/0476;A61B5/053
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 馬佑平;楊國權

1.一種用于腦電圖儀的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，包括與所述腦電圖儀的作用電極一一對應配置的多個阻抗檢測單元，

每一所述阻抗檢測單元包括差分放大器(A)、第一檢測電路和第二檢測電路，所述差分放大器(A)的正輸入端(V_INP)和負輸入端(V_INN)分別與相配對的一個作用電極和一個參考電極連接；

所述第一檢測電路連接于所述差分放大器(A)的正輸入端(V_INP)與接地電極之間，所述第二檢測電路連接于所述差分放大器(A)的負輸出端(V_INN)與所述接地電極之間；

其中，所述第一檢測電路包括串聯連接的第一恒流源(Ip)和第一開關(Sp)，所述第二檢測電路包括串聯連接的第二恒流源(In)和第二開關(Sn)。

2.根據權利要求1所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述第一恒流源(Ip)和所述第一開關(Sp)串聯連接在模擬供電端(AVDD)與所述差分放大器(A)的正輸入端(V_INP)之間，或者串聯連接在模擬接地端(AVSS)與所述差分放大器(A)的正輸入端(V_INP)之間；

所述第二恒流源(In)和所述第二開關(Sn)串聯連接在模擬供電端(AVDD)與所述差分放大器(A)的負輸入端(V_INN)之間，或者串聯連接在模擬接地端(AVSS)與所述差分放大器(A)的負輸入端(V_INN)之間。

3.根據權利要求2所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述第一檢測電路和第二檢測電路經電壓偏置單元與所述接地電極連接，所述電壓偏置單元包括電壓跟隨器(U)和分壓電路，所述分壓電路連接于所述模擬供電端(AVDD)與所述模擬接地端(AVSS)之間，所述電壓跟隨器(U)的同相輸入端與所述分壓電路的一分壓點連接，所述電壓跟隨器(U)的輸出端與所述接地電極連接。

4.根據權利要求3所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述分壓點為所述分壓電路的分壓中點。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述第一恒流源(Ip)與所述第二恒流源(In)的輸出電流的電流值相等。

6.根據權利要求1至4中任一項所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述第一開關(Sp)為受第一開關信號控制的受控開關，所述第二開關(Sn)為受第二開關信號控制的受控開關，所述接觸阻抗檢測電路還包括用于接收所述第一開關信號的第一開關信號輸入端子和用于接收所述第二開關信號的第二開關信號輸入端子。

7.根據權利要求6所述的接觸阻抗檢測電路，其特征在于，所述第一開關(Sp)和所述第二開關(Sn)為三極管或者MOS管。

8.一種腦電圖儀，包括作用電極、參考電極、接地電極、腦電信號檢測電路(2)和接觸阻抗檢測電路(1)，所述腦電信號檢測電路(2)包括與所述作用電極一一對應配置的多個腦電檢測單元，所述腦電檢測單元具有差分放大器，且所述腦電檢測單元的差分放大器的正輸入端和負輸入端分別與相配對的一個作用電極和一個參考電極連接，

其特征在于，所述接觸阻抗檢測電路(1)為權利要求1至7中任一項所述的接觸阻抗檢測電路，且所述阻抗檢測單元的差分放大器(A)與所述腦電檢測單元的對應相同作用電極的差分放大器共用；

所述腦電圖儀還包括處理單元(4)和與所述差分放大器(A)一一對應配置的模數轉換器，所述模數轉換器的模擬信號輸入端與對應差分放大器(A)的輸出端連接，所述模數轉換器的數字信號輸出端與所述處理單元(4)的對應數據輸入端口連接。

9.根據權利要求8所述的腦電圖儀，其特征在于，所述第一開關(Sp)為受第一開關信號控制的受控開關，所述第二開關(Sn)為受第二開關信號控制的受控開關；所述腦電圖儀還包括開關控制單元(6)，且所述開關控制單元(6)被設置為用于向所有所述第一開關(Sp)輸出所述第一開關信號、及用于向所有所述第二開關(Sn)輸出所述第二開關信號。

10.根據權利要求9所述的腦電圖儀，其特征在于，所述腦電信號檢測電路、所述接觸阻抗檢測電路和所述模數轉換器均集成在腦電前端芯片中。